光电导衰减检测

检测项目

1. 载流子寿命（Carrier Lifetime）：测量范围10ns-10ms，分辨率±1ns

2. 衰减时间常数（τ）：测试精度±5%，重复性误差≤3%

3. 暗电导率（Dark Conductivity）：量程1×10⁻¹²~1×10⁻³ S/cm

4. 光生载流子浓度（Δn/Δp）：检测灵敏度≥1×10¹² cm⁻³

5. 表面复合速率（Surface Recombination Velocity）：测量误差≤15%，测试温度25±0.5℃

检测范围

1. 半导体材料：单晶硅、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等III-V族化合物

2. 光伏组件：晶体硅太阳能电池、薄膜太阳能电池(PERC/HJT)

3. 光电探测器：PIN光电二极管、雪崩光电二极管(APD)

4. 薄膜材料：非晶硅(a-Si)、氧化锌(ZnO)透明导电膜

5. 光纤材料：掺铒光纤(EDFA)、光子晶体光纤(PCF)

检测方法

ASTM F28-1997：半导体材料少子寿命测试标准方法

ISO 18537:2015：光伏器件载流子复合特性测定规范

GB/T 1553-1997：半导体单晶少数载流子寿命测试方法

GB/T 35011-2018：太阳能级硅片光电性能测试规程

IEC 60904-10:2020：光伏器件线性度与响应时间测量

检测设备

1. Keithley 4200A-SCS参数分析仪：支持IV/CV/脉冲模式测量

2. Agilent DSOX92504A示波器：25GHz带宽，80GSa/s采样率

3. Newport 918D-IG0-A光电探测器：光谱响应范围200-1700nm

4. Hamamatsu PLP-10激光脉冲源：脉宽＜10ns，波长532/1064nm可选

5. Lake Shore CRX-VF低温探针台：温控范围4K-475K±0.1K

6. LabVIEW PXIe-5171R数据采集系统：14位分辨率，250MS/s采样率

7. Thorlabs PM100D光功率计：测量精度±0.8%，波长范围200-11μm

8. Keysight B1500A半导体分析仪：支持瞬态特性与阻抗谱分析

9. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：表面复合速率原位测试模块

10. Oxford Instruments OptistatDN₂低温恒温器：77K-500K控温精度±0.05K

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"光电导衰减检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。