1.输入失调电压范围:0.1mV至10mV
2.共模抑制比(CMRR):60dB至120dB
3.开环增益误差:0.5%至5%
4.温度漂移系数:0.5μV/℃至10μV/℃
5.频率响应带宽:DC-100MHz
1.运算放大器集成电路(如LM741、AD620)
2.差分信号调理模块(工业传感器接口电路)
3.医疗电子设备前置放大器(ECG/EEG信号链)
4.通信系统射频接收前端电路
5.汽车电子控制单元(ECU)信号处理模块
GB/T3442.1-2021《半导体集成电路运算放大器测试方法》
IEC60748-4-3:2017《半导体器件集成电路第4-3部分:模拟器件》
ASTMF1241-22《电子器件差分增益测试规程》
ISO16750-2:2023《道路车辆电气环境条件及试验方法》
JESD78F.01《集成电路闩锁效应测试规范》
KeysightB2902A精密源表:提供210V/3ADC源与pA级测量精度
TektronixMSO646GHz示波器:支持8通道差分信号同步采集
Rohde&SchwarzRTO2044频谱分析仪:100Hz至40GHz频率响应测试
Chroma3380系统电源:多路隔离输出与动态负载模拟功能
Fluke8588A参考级万用表:8.5位分辨率及0.0015%基本精度
ESPECSH-642恒温箱:-70℃至+180℃温漂测试环境
NIPXIe-4139SMU模块:集成式高密度参数测试系统
AgilentE5061B网络分析仪:5Hz至3GHz阻抗特性分析
Keithley2636B双通道源表:支持四象限工作模式测试
HIOKIIM3536LCR表:10μHz至8MHz阻抗相位测量能力
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与差模放大倍数检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。