共聚焦面目镜检测概述:共聚焦面目镜检测是一种基于激光扫描技术的高精度表面分析手段,广泛应用于材料科学、精密制造及生物医学领域。其核心在于通过非接触式三维成像技术获取样品表面形貌、粗糙度及微观结构数据,关键指标包括轴向分辨率(≤10nm)、横向分辨率(≤120nm)及扫描速度(最高200帧/秒)。检测过程严格遵循ISO25178及ASTME284等国际规范。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.表面粗糙度分析:测量Ra(0.01-10μm)、Rz(0.1-100μm)、Sa(三维粗糙度)参数
2.涂层厚度测定:分辨率达0.1μm,量程覆盖0.1-500μm
3.三维形貌重构:Z轴分辨率≤5nm,最大扫描面积100100mm
4.微结构尺寸测量:特征尺寸精度0.05μm(X/Y轴),0.01μm(Z轴)
5.材料成分分析:通过反射率光谱(波长范围400-800nm)识别材质特性
1.金属材料:钛合金精密部件、轴承滚道表面
2.高分子材料:医用导管内壁、光学级PMMA镜片
3.半导体器件:晶圆刻蚀图形、MEMS微结构
4.光学镀膜元件:AR膜层厚度、滤光片阶梯结构
5.生物医学样本:人工关节表面处理质量、牙科种植体形貌
ASTME284-22《表面粗糙度术语定义》
ISO4287:2023《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法》
GB/T11344-2021《接触式超声波测厚方法》
ISO25178-604:2022《非接触式共聚焦显微测量规范》
GB/T33523.601-2017《产品几何技术规范表面结构区域法》
1.OlympusLEXTOLS5000:配备405nm激光源,支持120nm横向分辨率测量
2.KeyenceVK-X3000:集成4KCMOS探测器,实现0.001nmZ轴分辨率
3.ZeissLSM900:配置GaAsP探测器模块,适用于荧光材料分析
4.NikonAX/AXR:搭载DU4探测器,最大扫描速度200fps
5.BrukerContourGT-X3:采用白光干涉技术兼容模式工作
6.SensofarSneox:三模式系统(共聚焦/干涉/焦点变化)综合平台
7.LeicaDCM8:配备双物镜转台(2.5X-150X连续变倍)
8.HitachiKS-1100:专设环境振动隔离系统(隔振频率≤1Hz)
9.MitakaNH-3S:内置温度补偿模块(0.1℃控温精度)
10.ZygoNewView9000:整合Mx™软件实现实时三维分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与共聚焦面目镜检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。