检测项目

1. 数据保持能力：高温存储（125℃±3℃/1000h）后数据完整性验证

2. 擦写次数测试：重复编程/擦除循环（≥10^4次）后功能验证

3. 工作电压范围：Vcc=4.5V-5.5V范围内读写稳定性测试

4. 温度循环测试：-55℃~+125℃温度梯度循环（100次）后的参数漂移量

5. 编程/擦除时间：单字节编程时间≤100μs，全片擦除时间≤20ms

检测范围

1. UV-EPROM芯片：窗口式紫外线擦除型存储器

2. EEPROM模块：电可擦除式存储单元阵列

3. 嵌入式系统存储单元：集成于MCU的OTP存储器

4. 工业控制设备存储模块：高温环境应用型EPROM

5. 汽车电子存储器件：AEC-Q100认证级EPROM组件

检测方法

1. ASTM F1245-18：非易失性存储器数据保持能力测试标准

2. ISO 9001:2015：质量管理体系下的过程控制要求

3. GB/T 15844.2-2021：半导体器件记忆特性试验方法

4. JEDEC JESD22-A117E：电可擦除可编程ROM耐久性测试

5. MIL-STD-883K Method 1033：军用级存储器件环境适应性测试

检测设备

1. Keysight B1500A半导体参数分析仪：执行I-V特性曲线扫描及漏电流测量

2. ThermoStream T-2600温度循环试验箱：实现-65℃~+150℃快速温变测试

3. Advantest T5391存储器测试系统：支持并行多通道编程/擦除时序分析

4. Chroma 33622P可编程电源：提供±0.1%精度的电压波动模拟

5. ESPEC SH-642紫外线擦除装置：波长253.7nm的UV照射强度校准

6. Tektronix DPO7254示波器：捕获纳秒级编程脉冲波形畸变

7. Fluke 8846A精密数字万用表：测量静态功耗电流（分辨率0.1μA）

8. HIEL UV能量计：监测紫外线辐照剂量（单位mJ/cm²）

9. MPI TS2000探针台：进行晶圆级存储单元特性测试

10. Thermotron F-4C振动试验台：执行MIL-STD-202G机械振动测试

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与可擦编程只读存储器检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。