1.价带顶位置测定:精度0.05eV
2.能带宽度分析:测量范围0.1-10eV
3.电子态密度分布:分辨率≤0.1eV
4.费米能级定位:误差范围0.03eV
5.表面态密度表征:深度分辨率1-5nm
1.半导体材料:硅基材料(Si/Ge)、III-V族化合物(GaAs/InP)
2.金属材料:过渡金属(Fe/Cu/Al)、稀土金属合金
3.绝缘体材料:氧化物陶瓷(Al₂O₃/SiO₂)、高分子聚合物
4.光伏材料:钙钛矿薄膜(MAPbI₃)、CIGS薄膜
5.催化剂材料:贵金属纳米颗粒(Pt/Pd)、金属氧化物催化剂(TiO₂/CeO₂)
1.X射线光电子能谱法:ASTME1508-20、ISO18118:2022
2.紫外光电子能谱法:GB/T22588-2008
3.角分辨光电子能谱法:ISO19830:2017
4.同步辐射光电子能谱法:GB/T40128-2021
5.扫描隧道谱分析法:IEC62607-4-3:2019
1.X射线光电子能谱仪(XPS):ThermoScientificK-Alpha+,配备单色化AlKα源
2.紫外光电子能谱仪(UPS):PHI5000VersaProbeIII,HeI/HeII双光源系统
3.角分辨光电子能谱系统(ARPES):ScientaOmicronDA30L半球分析器
4.扫描隧道显微镜(STM):BrukerMultiMode8-HR,能量分辨率0.1meV
5.同步辐射光束线终端站:上海光源BL08U1A线站
6.低温样品台系统:JanisST-500,温控范围4K-400K
7.超高真空系统:VGScientaR4000,极限真空510⁻mbar
8.能量分析器:SPECSPhoibos150CCD探测器
9.原位样品处理模块:OmicronEFM3电子束蒸发系统
10.数据采集系统:LabVIEW平台定制化采集软件
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与价带检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。