1. pH值测定:测量范围0.00-14.00±0.01(25℃)
2. 粘度测试:动态粘度范围0.5-5000 mPa·s±1%
3. 金属离子含量:Al³+≤0.1ppb、Fe²+≤0.05ppb(ICP-MS法)
4. 有机溶剂残留:NMP≤50ppm、DMSO≤30ppm(GC-MS法)
5. 表面张力:18-72 mN/m±0.1(铂板法)
6. 电导率:0.1-200 mS/cm±1%
7. 颗粒物浓度:≥0.1μm颗粒≤100个/mL(LS计数法)
1. 光刻胶剥离后的硅基晶圆表面残留物
2. 柔性OLED显示面板剥离工序处理液
3. MEMS器件制造用碱性剥离液
4. 半导体封装用酸性剥离溶液
5. 光学镀膜基材清洗剂
6. 3D NAND结构层间剥离介质
1. pH值测定:ASTM E1806-18标准方法B
2. 金属离子分析:ISO 17294-2:2016电感耦合等离子体质谱法
3. 粘度测试:GB/T 265-88旋转粘度计法
4. 有机挥发物检测:GB/T 23986-2009气相色谱-质谱联用法
5. 表面张力测定:ISO 304-1985铂板法
6. 颗粒物分析:SEMI C44-0708激光散射计数法
7. 电导率测试:GB/T 11007-2008电导电极法
1. 梅特勒FE28型实验室pH计(分辨率0.001pH)
2. 安东帕Lovis 2000 M微体积粘度计(测量精度±0.5%)
3. Agilent 7900 ICP-MS(检出限0.01ppt)
4. Shimadzu GCMS-QP2020 NX(质量范围m/z 1.5-1100)
5. Krüss K100C全自动表面张力仪(温度控制±0.1℃)
6. PSS AccuSizer 780 AD单颗粒计数器(粒径分辨率3nm)
7. Metrohm 856导电率仪(量程0.01μS/cm-1000mS/cm)
8. Malvern Zetasizer Pro粒径分析仪(动态光散射法)
9. Hitachi SU5000场发射电镜(分辨率1nm@15kV)
10. Mettler Toledo XPR205DR微量天平(精度0.01mg)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与负胶剥离液检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。