检测项目

直流电阻率测试：测量范围0.1μΩ·m~100Ω·m，分辨率达0.01μΩ·m（依据ASTM B193）

交流阻抗谱分析：频率范围20Hz~2MHz，相位角测量精度±0.1°（符合IEC 60250）

温度系数测试：温控范围-70℃~300℃，温度梯度≤±0.5℃（参照IEC 60468）

接触电阻测试：电流加载0.1A~100A，接触压力0.5N~50N可调（执行MIL-STD-202）

绝缘介质损耗角测试：测试电压AC 0.5kV~10kV，tanδ测量精度±0.0001（符合GB/T 1409）

检测范围

导体材料：铜合金导线、铝基复合材料、银纳米涂层导体

绝缘材料：硅橡胶绝缘层、聚酰亚胺薄膜、环氧树脂封装体

电子元器件：PCB板铜箔、连接器触点、功率半导体封装

电力设备：变压器绕组、高压电缆芯线、母线排接点

复合材料：碳纤维增强导体、金属基陶瓷涂层、导电高分子材料

检测方法

四线制微欧测量法：消除引线电阻影响，满足ASTM B193标准，适用于导体材料直流电阻精确测定

LCR电桥法：采用自动平衡桥技术，执行IEC 60250规定的介质损耗因数测量程序

温升循环测试：依据IEEE 1198建立温度-电阻特性曲线，温度控制符合NIST可追溯标准

高压电桥法：基于Schering桥原理，按GB/T 1409标准执行10kV级绝缘材料损耗测量

动态接触电阻测试：遵循MIL-STD-1344方法3006，模拟机械振动环境下的接触阻抗变化

检测设备

Keysight 34461A数字万用表：6位半分辨率，0.004%基本DCV精度，支持四线电阻测量

Chroma 19032 LCR测试仪：频率范围20Hz~2MHz，基本精度0.05%，配备三温区测试夹具

ESPEC T-242热冲击箱：-70℃~180℃快速温变，转换时间＜5分钟，温度均匀度±1.5℃

HIOKI RM3545电阻计：0.1μΩ分辨率，30A大电流输出，支持温度补偿功能

Haefely 5800高压电桥：10kV测试电压，tanδ分辨率0.00001，符合IEC 60247标准

技术优势

CNAS认可实验室（注册号详情请咨询工程师），检测报告获ILAC-MRA国际互认

ISO/IEC 17025体系认证，建立NIST可溯源的计量标准体系

配备Class 0.02级标准电阻器，实现测量系统实时自校准

拥有-196℃液氮低温至1500℃高温的全域温控能力

自主研发多轴振动台集成测试系统，实现动态工况模拟

　　以上是与欧姆损耗测试相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。