1. 临界分切应力测定:测量温度范围300-1200℃,应变速率1×10⁻⁵~1×10⁻³ s⁻¹
2. 晶界滑移激活能计算:通过Arrhenius方程拟合Q值(单位kJ/mol)
3. 应变速率敏感性指数分析:m值测定精度±0.02
4. 晶界偏析元素分布:EDS面扫描分辨率≤5nm
5. 动态再结晶体积分数测定:EBSD取向差阈值设定15°
1. 金属材料:铝合金(AA6061/7075)、钛合金(Ti-6Al-4V)、镁合金(AZ31/91)
2. 高温合金:镍基单晶合金(CMSX-4)、钴基合金(Haynes 188)
3. 陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)、碳化硅(SiC)
4. 半导体材料:硅基复合材料(SiC/Si)、砷化镓(GaAs)
5. 复合材料:碳纤维增强钛基复合材料(Cf/Ti)、氧化物弥散强化钢(ODS-EUROFER)
ASTM E2714-13:高温压缩试验测定晶界滑移量
ISO 14577-4:2016:纳米压痕法评估局部晶界强度
GB/T 4338-2006:金属材料高温拉伸试验方法
ASTM E112-13:晶粒度测定与统计分析
ISO 16700:2016:扫描电镜定量分析规程
1. Instron 8862型万能试验机:载荷范围±100kN,高温炉最高温度1600℃
2. FEI Quanta 650 FEG扫描电镜:分辨率1nm@15kV,配备EDAX Octane Elite能谱仪
3. Bruker e-FlashHR EBSD系统:全花样采集速度≥3000pps
4. Netzsch DIL 402C热膨胀仪:温度分辨率0.1℃,位移分辨率0.125nm
5. Hysitron TI Premier纳米压痕仪:最大载荷30mN,位移分辨率0.02nm
6. Zeiss LSM 900激光共聚焦显微镜:横向分辨率120nm@405nm波长
7. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪:角度重复性±0.0001°
8. MTS Landmark伺服液压系统:动态应变测量精度±0.5%FS
9. Gatan Plasma FIB-SEM系统:离子束加速电压30kV,束流范围1pA-200nA
10. Oxford Instruments Symmetry EBSD探测器:70°倾斜角采集模式
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"晶界滑动检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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