检测项目

1. 膜层厚度：测量范围0.1nm-10μm，精度±0.5%，采用非接触式光学测量

2. 表面粗糙度：Ra值范围0.1-100nm，三维形貌重构分辨率1nm

3. 附着力强度：划痕法测试临界载荷0.1-200N，剥离法测量结合能0.01-50J/m²

4. 化学成分分析：元素含量检测限0.1at%，化学键态识别精度±0.2eV

5. 透光率特性：波长范围300-2500nm，光谱分辨率1nm

6. 耐腐蚀性能：盐雾试验时间24-1000h，温度循环范围-70℃~150℃

7. 电学特性：表面电阻率10³-10¹⁶Ω/sq，介电常数测试频率1kHz-1MHz

检测范围

1. 高分子功能薄膜：聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚酰亚胺(PI)等聚合物薄膜

2. 金属镀层薄膜：铝/钛/铜等物理气相沉积(PVD)镀层

3. 生物医用薄膜：药物缓释膜、人工器官涂层、生物传感器基膜

4. 光学功能薄膜：增透膜(AR)、反射膜、滤光片镀层

5. 电子器件薄膜：半导体封装膜、柔性电路基材、锂电池隔膜

6. 复合阻隔薄膜：食品包装阻氧层、光伏组件背板阻水膜

检测方法

1. ASTM E252-06：标准测试方法测定薄膜厚度(干涉显微镜法)

2. ISO 4287:1997：表面粗糙度参数定义与测量规范

3. GB/T 9286-2021：色漆和清漆漆膜的划格试验

4. ISO 15472:2010：X射线光电子能谱(XPS)表面化学分析通则

5. ASTM D1003-13：透明塑料透光率和雾度测定标准

6. GB/T 10125-2021：人造气氛腐蚀试验盐雾试验

7. GB/T 1410-2006：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验

检测设备

1. Filmetrics F20型光谱椭偏仪：非接触式薄膜厚度测量(1nm-300μm)

2. Bruker Dektak XT轮廓仪：表面粗糙度测量垂直分辨率0.1nm

3. CSM Instruments Revetest划痕测试仪：最大载荷50N的附着力定量分析

4. Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪：表面元素化学态分析

5. PerkinElmer Lambda 950紫外可见近红外分光光度计：190-3300nm透射/反射测试

6. Q-Lab CCT-1100循环腐蚀试验箱：复合盐雾/湿热/紫外老化测试

7. Keysight B1500A半导体器件分析仪：薄膜电学特性表征系统

8. Bruker Dimension Icon原子力显微镜(AFM)：三维表面形貌纳米级解析

9. Malvern Zetasizer Nano ZS动态光散射仪：纳米薄膜粒径分布分析

10.Hitachi SU8200冷场发射扫描电镜(SEM)：薄膜截面微观结构观测

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与分子膜检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。