光学记录检测

检测项目

1.反射率测量：波长范围380-780nm可见光波段内反射系数测定，入射角度00.5，测量精度0.5%

2.透射率分析：特定波长（405nm/650nm/780nm）下透过率测试，分辨率达0.01%，温度控制0.1℃

3.信噪比评估：动态范围≥60dB条件下信号波动值测量，噪声阈值≤3mV@1kHz带宽

4.表面粗糙度检测：Ra值测量范围0.1-100nm，扫描区域1010μm至500500μm

5.记录层厚度测定：非接触式激光干涉法测量厚度均匀性，分辨率2nm@100μm量程

检测范围

1.CD/DVD/蓝光光盘类光存储介质基板与记录层

2.光学薄膜材料（滤光片、增透膜、反射膜）

3.光致变色材料的光学响应特性

4.全息存储介质的布拉格衍射效率

5.光电传感器件的量子效率与线性响应度

检测方法

ASTME903-2012：材料太阳吸收比与半球发射比测试标准

ISO13695:2004：光学激光光源光谱特性表征方法

GB/T18873-2017：光学薄膜元件表面疵病检验规范

ISO18937:2014：成像材料-光学存储介质-加速老化试验方法

GB/T26594-2011：蓝光光盘存储介质技术要求和测试方法

检测设备

PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计：波长范围175-3300nm，积分球直径150mm

BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm，横向分辨率0.4μm

Agilent4156C精密半导体参数分析仪：最小电流分辨率10aA

OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：Z轴重复精度1nm

ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：光谱范围7800-350cm⁻

VeecoDimensionIcon原子力显微镜：最大扫描范围9090μm

HitachiSU8200冷场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV

MalvernPanalyticalZetasizerNanoZSP动态光散射仪：粒径测量范围0.3nm-10μm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"光学记录检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。