检测项目
1.反射率测量：波长范围380-780nm可见光波段内反射系数测定，入射角度00.5，测量精度0.5%
2.透射率分析：特定波长（405nm/650nm/780nm）下透过率测试，分辨率达0.01%，温度控制0.1℃
3.信噪比评估：动态范围≥60dB条件下信号波动值测量，噪声阈值≤3mV@1kHz带宽
4.表面粗糙度检测：Ra值测量范围0.1-100nm，扫描区域1010μm至500500μm
5.记录层厚度测定：非接触式激光干涉法测量厚度均匀性，分辨率2nm@100μm量程
检测范围
1.CD/DVD/蓝光光盘类光存储介质基板与记录层
2.光学薄膜材料（滤光片、增透膜、反射膜）
3.光致变色材料的光学响应特性
4.全息存储介质的布拉格衍射效率
5.光电传感器件的量子效率与线性响应度
检测方法
ASTME903-2012：材料太阳吸收比与半球发射比测试标准
ISO13695:2004：光学激光光源光谱特性表征方法
GB/T18873-2017：光学薄膜元件表面疵病检验规范
ISO18937:2014：成像材料-光学存储介质-加速老化试验方法
GB/T26594-2011：蓝光光盘存储介质技术要求和测试方法
检测设备
PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计：波长范围175-3300nm，积分球直径150mm
BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm，横向分辨率0.4μm
Agilent4156C精密半导体参数分析仪：最小电流分辨率10aA
OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：Z轴重复精度1nm
ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：光谱范围7800-350cm⁻
VeecoDimensionIcon原子力显微镜：最大扫描范围9090μm
HitachiSU8200冷场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV
MalvernPanalyticalZetasizerNanoZSP动态光散射仪：粒径测量范围0.3nm-10μm