三角杂化检测概述:检测项目1.键角测定:精度0.5,采用三维电子密度重构技术2.杂化轨道能级分析:能量分辨率≤0.1eV3.电子密度分布测定:空间分辨率0.014.分子轨道对称性验证:对称轴偏差容限0.35.杂化指数计算:SP/SP比值误差≤2%6.晶格畸变率测量:应变灵敏度达10⁻⁴量级检测范围1.高分子材料:聚酰亚胺薄膜、聚四氟乙烯复合材料2.金属合金:钛铝基高温合金、镍基超合金3.纳米复合材料:碳纳米管增强陶瓷、石墨烯-金属基体4.有机晶体材料:钙钛矿光伏材料、有机半导体单晶5.半导体材料:III-V族化合物、二维过
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1.键角测定:精度0.5,采用三维电子密度重构技术
2.杂化轨道能级分析:能量分辨率≤0.1eV
3.电子密度分布测定:空间分辨率0.01
4.分子轨道对称性验证:对称轴偏差容限0.3
5.杂化指数计算:SP/SP比值误差≤2%
6.晶格畸变率测量:应变灵敏度达10⁻⁴量级
1.高分子材料:聚酰亚胺薄膜、聚四氟乙烯复合材料
2.金属合金:钛铝基高温合金、镍基超合金
3.纳米复合材料:碳纳米管增强陶瓷、石墨烯-金属基体
4.有机晶体材料:钙钛矿光伏材料、有机半导体单晶
5.半导体材料:III-V族化合物、二维过渡金属硫化物
1.ASTME1252-17:X射线衍射法测定晶体结构参数
2.ISO20203:2006:电子能量损失谱分析轨道杂化状态
3.GB/T36063-2018:同步辐射光电子能谱测试标准
4.ISO19318:2021:X射线光电子能谱表面分析规范
5.GB/T35033-2018:透射电子显微镜选区衍射法
1.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:配备Euleriancradle测角仪
2.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪:4cm⁻分辨率红外分析
3.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜:0.08nm点分辨率成像
4.SPECSPHOIBOS150电子能谱仪:多模式光电子能谱采集
5.HitachiSU5000场发射电镜:15kV低电压EDS元素分析
6.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统:三维极图测定功能
7.OxfordInstrumentsAZtecSynergyEDS系统:50mm大面积探测器
8.AgilentCary630FTIR显微镜:空间分辨率达1.5μm
9.ZeissSigma500扫描电镜:二次电子/背散射双探头系统
10.RigakuSmartLabX射线衍射仪:9kW旋转阳极光源配置
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与三角杂化检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。