体电荷检测概述:检测项目1.表面电荷密度测量:范围110⁻⁹C/cm至110⁻⁴C/cm,分辨率0.1pC/cm2.体积电阻率测试:量程110Ωcm至110⁸Ωcm,温度范围-40℃~150℃3.静电衰减时间测定:时间分辨率0.1s~3600s,衰减率精度2%4.电荷极性分析:灵敏度5mV,空间分辨率50μm5.介电常数测定:频率范围20Hz~2MHz,介电损耗角正切0.0001~10检测范围1.半导体晶圆及封装材料(硅片、GaN衬底等)2.高分子聚合物(PE、PTFE、PET薄膜等)3.电子元件(PCB基板、电容器介质
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.表面电荷密度测量:范围110⁻⁹C/cm至110⁻⁴C/cm,分辨率0.1pC/cm
2.体积电阻率测试:量程110Ωcm至110⁸Ωcm,温度范围-40℃~150℃
3.静电衰减时间测定:时间分辨率0.1s~3600s,衰减率精度2%
4.电荷极性分析:灵敏度5mV,空间分辨率50μm
5.介电常数测定:频率范围20Hz~2MHz,介电损耗角正切0.0001~10
1.半导体晶圆及封装材料(硅片、GaN衬底等)
2.高分子聚合物(PE、PTFE、PET薄膜等)
3.电子元件(PCB基板、电容器介质层等)
4.绝缘材料(陶瓷基板、云母片等)
5.生物医用材料(人工关节涂层、导管表面处理层等)
1.ASTMD257-14:绝缘材料直流电阻测试标准方法
2.ISO3915:2021:塑料材料体积电阻率测定规范
3.GB/T31838.2-2019:固体绝缘材料介电性能试验方法
4.IEC61340-4-1:2015:静电衰减测量标准程序
5.JISC2139:2007:高电阻材料电荷存储特性测试规程
1.KeysightB2987A静电计:分辨率0.01fA/0.1μV,支持10⁶Ω阻抗测量
2.Trek347型静电电压表:量程20kV,带宽DC-1kHz
3.Monroe284D电荷衰减测试仪:符合MIL-STD-1686C标准要求
4.Keithley6517B高阻计:最大电压1000V,基本精度0.7%
5.Electro-TechSystemsModel825电荷分布成像系统:空间分辨率50μm
6.SimcoFMX-003静电场强计:量程20kV/cm,精度5%
7.MitsubishiChemicalHV-P60耐压测试仪:输出电压DC12kV
8.HIOKIIM3570阻抗分析仪:频率范围4Hz~5MHz
9.ThermoScientificCGS-100接触式表面电位计:重复性0.5%
10.Agilent4294A精密阻抗分析仪:基本精度0.08%,支持四端对测量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与体电荷检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。