检测项目

1.载流子浓度测试：测量范围110~110⁹cm⁻，精度3%

2.霍尔迁移率测定：温度范围77-400K，磁场强度0.5T

3.费米能级定位：分辨率0.01eV

4.缺陷态密度分析：探测下限110⁰cm⁻eV⁻

5.光致发光谱测量：波长范围300-1700nm

6.热电势系数测试：温度梯度ΔT=10K

检测范围

1.III-V族半导体材料（GaAs,InP等）

2.硅基光伏电池组件

3.钙钛矿太阳能薄膜

4.二维过渡金属硫化物（MoS₂,WS₂）

5.有机半导体材料（P3HT,PCBM）

6.量子点发光器件

检测方法

1.ASTMF76:半导体材料霍尔效应标准测试方法

2.ISO16331:光伏器件载流子寿命测量规范

3.GB/T30869-2014:半导体材料导电类型测试规程

4.IEC62446-1:光伏系统特性参数测量标准

5.JISH0605:硅单晶电阻率测定方法

6.GB/T1551-2009:硅单晶导电类型测定方法

检测设备

1.Keithley4200A-SCS参数分析仪：实现IV/CV特性曲线测量

2.LakeShoreCRX-VF低温探针台：支持77-500K变温测试

3.AgilentB1500A半导体分析仪：精度达0.1fA/0.5μV

4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：表面电势成像分辨率1mV

5.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼系统：空间分辨率0.5μm

6.Instron5967万能材料试验机：载荷精度0.5%

7.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计：波长精度0.08nm

8.OxfordInstrumentsOptistatCF低温恒温器：温度稳定性0.01K

9.KeysightB2902A精密源表：最小电流分辨率10fA

10.ThermoScientificESCALABXi+光电子能谱仪：能量分辨率<0.45eV

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与导带底检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。