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硅酮包层石英光纤检测

  • 原创官网
  • 2025-05-19 18:18:44
  • 关键字:硅酮包层石英光纤测试标准,硅酮包层石英光纤测试范围,硅酮包层石英光纤测试周期
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硅酮包层石英光纤检测概述:检测项目1.光学衰减系数:测试波长850/1300/1550nm下的衰减值≤0.4dB/km2.几何参数精度:纤芯直径1251μm,包层厚度25010μm3.抗拉强度测试:最小断裂负荷≥5N,应变极限≤0.3%4.温度循环性能:-40℃~+85℃循环100次后衰减变化≤0.1dB/km5.涂层附着力:剥离力≥1.4N/cm(ASTMD4566标准)6.耐水解性能:85℃/85%RH环境1000h后机械强度保留率≥90%检测范围1.单模通信光纤(G.652.D/G.657.A2)2.多模渐变折射率光纤(OM


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检测项目

1.光学衰减系数:测试波长850/1300/1550nm下的衰减值≤0.4dB/km

2.几何参数精度:纤芯直径1251μm,包层厚度25010μm

3.抗拉强度测试:最小断裂负荷≥5N,应变极限≤0.3%

4.温度循环性能:-40℃~+85℃循环100次后衰减变化≤0.1dB/km

5.涂层附着力:剥离力≥1.4N/cm(ASTMD4566标准)

6.耐水解性能:85℃/85%RH环境1000h后机械强度保留率≥90%

检测范围

1.单模通信光纤(G.652.D/G.657.A2)

2.多模渐变折射率光纤(OM3/OM4/OM5)

3.耐辐射特种光纤(抗辐射剂量≥110^6Gy)

4.大芯径传能光纤(芯径400-1000μm)

5.紫外固化硅酮涂层光纤(固化度≥95%)

6.高温型光纤(长期工作温度≥300℃)

检测方法

ASTMD4566-19:光纤机械可靠性测试规范

ISO/IEC60793-1-40:光纤几何参数测量方法

GB/T15972.30-2021:光纤试验方法-机械性能

TIA-455-78-C:光纤涂层可剥离性测试

IEC60793-1-47:宏弯损耗测试规程

GB/T18310.49-2021:光纤环境试验-温度循环

检测设备

EXFOFTB-200OTDR:动态范围45dB,空间分辨率0.8m

YokogawaAQ6370D光谱分析仪:波长范围600-1700nm

Instron5944万能材料试验机:载荷精度0.5%,位移分辨率0.1μm

EspecSH-642恒温恒湿箱:温度范围-70℃~+150℃

PhotonKinetics2400光纤几何分析仪:直径测量精度0.1μm

AnritsuMT9810A偏振模色散测试仪:PMD精度0.01ps/√km

ILXLightwaveFPM-8220光功率计:校准波长覆盖850-1650nm

Gooch&HousegoOL750辐射测试系统:剂量率控制精度3%

TitanexFOT-300光纤扭转试验机:扭转角度分辨率0.1

Agilent8703B网络分析仪:频率范围130MHz~20GHz

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与硅酮包层石英光纤检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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