硅酮包层石英光纤检测概述:检测项目1.光学衰减系数:测试波长850/1300/1550nm下的衰减值≤0.4dB/km2.几何参数精度:纤芯直径1251μm,包层厚度25010μm3.抗拉强度测试:最小断裂负荷≥5N,应变极限≤0.3%4.温度循环性能:-40℃~+85℃循环100次后衰减变化≤0.1dB/km5.涂层附着力:剥离力≥1.4N/cm(ASTMD4566标准)6.耐水解性能:85℃/85%RH环境1000h后机械强度保留率≥90%检测范围1.单模通信光纤(G.652.D/G.657.A2)2.多模渐变折射率光纤(OM
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.光学衰减系数:测试波长850/1300/1550nm下的衰减值≤0.4dB/km
2.几何参数精度:纤芯直径1251μm,包层厚度25010μm
3.抗拉强度测试:最小断裂负荷≥5N,应变极限≤0.3%
4.温度循环性能:-40℃~+85℃循环100次后衰减变化≤0.1dB/km
5.涂层附着力:剥离力≥1.4N/cm(ASTMD4566标准)
6.耐水解性能:85℃/85%RH环境1000h后机械强度保留率≥90%
1.单模通信光纤(G.652.D/G.657.A2)
2.多模渐变折射率光纤(OM3/OM4/OM5)
3.耐辐射特种光纤(抗辐射剂量≥110^6Gy)
4.大芯径传能光纤(芯径400-1000μm)
5.紫外固化硅酮涂层光纤(固化度≥95%)
6.高温型光纤(长期工作温度≥300℃)
ASTMD4566-19:光纤机械可靠性测试规范
ISO/IEC60793-1-40:光纤几何参数测量方法
GB/T15972.30-2021:光纤试验方法-机械性能
TIA-455-78-C:光纤涂层可剥离性测试
IEC60793-1-47:宏弯损耗测试规程
GB/T18310.49-2021:光纤环境试验-温度循环
EXFOFTB-200OTDR:动态范围45dB,空间分辨率0.8m
YokogawaAQ6370D光谱分析仪:波长范围600-1700nm
Instron5944万能材料试验机:载荷精度0.5%,位移分辨率0.1μm
EspecSH-642恒温恒湿箱:温度范围-70℃~+150℃
PhotonKinetics2400光纤几何分析仪:直径测量精度0.1μm
AnritsuMT9810A偏振模色散测试仪:PMD精度0.01ps/√km
ILXLightwaveFPM-8220光功率计:校准波长覆盖850-1650nm
Gooch&HousegoOL750辐射测试系统:剂量率控制精度3%
TitanexFOT-300光纤扭转试验机:扭转角度分辨率0.1
Agilent8703B网络分析仪:频率范围130MHz~20GHz
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与硅酮包层石英光纤检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。