检测项目

1.电导率：测量范围10~10⁵S/m（西门子/米），精度0.5%

2.热导率：测试温度-50℃~300℃，分辨率0.1W/(mK)

3.磁化率：量程10⁻⁶~10⁻emu/g（电磁单位/克），磁场强度0~2T

4.密度测定：采用阿基米德法，精度0.01g/cm

5.维氏硬度：载荷范围0.5~30kgf（千克力），压痕测量误差≤1%

6.禁带宽度：光谱分析范围200~2500nm（纳米），分辨率0.02eV

检测范围

1.元素半金属材料：锑（Sb）、铋（Bi）、砷（As）、碲（Te）单质

2.合金体系：锑化铟（InSb）、铋锑合金（Bi-Sb）等二元/三元合金

3.半导体材料：碲化镉（CdTe）、碲化铅（PbTe）晶体

4.热电材料：Bi₂Te₃基热电转换器件

5.电子元件：半金属磁阻传感器、霍尔效应器件

6.涂层材料：含锑/铋的防腐镀层

检测方法

1.ASTME1004-17：电导率四探针法测量标准

2.ISO22007-4:2017：瞬态平面热源法测定热导率

3.GB/T3656-2008：振动样品磁强计法磁化率测试

4.GB/T1423-1996：贵金属及其合金密度测定方法

5.ISO6507-1:2018：维氏硬度试验方法

6.JISH0605-1996：半导体材料禁带宽度紫外可见分光光度法

检测设备

1.Keithley2450源表：四探针法电导率测试系统

2.HotDiskTPS2500S：宽温区热导率分析仪

3.LakeShore8604型振动样品磁强计：磁化率精密测量装置

4.MitutoyoHM-200硬度计：全自动维氏硬度测试平台

5.ShimadzuUV-3600Plus：紫外可见近红外分光光度计

6.MettlerToledoXS205电子天平：密度测定专用分析天平

7.RigakuSmartLabXRD：晶体结构X射线衍射分析系统

8.ZEISSSigma500场发射电镜：微观形貌与成分分析系统

9.NetzschSTA449F5：同步热分析仪（TG-DSC联用）

10.Agilent5500AFM：原子力显微镜表面特性分析仪

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与半金属检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。