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负调制检测

  • 原创官网
  • 2025-05-21 15:13:43
  • 关键字:负调制项目报价,负调制测试机构,负调制测试方法
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负调制检测概述:检测项目1.调制深度:测量范围50dBm,分辨率0.1dB(10MHz-6GHz频段)2.相位噪声:灵敏度-170dBc/Hz@1kHz偏移(载波频率1-20GHz)3.谐波失真:THD≤0.01%(输入功率+30dBm)4.瞬态响应:上升时间≤5ns(脉冲宽度10μs-100ms)5.频率稳定性:0.5ppm(-40℃至+85℃温变循环)检测范围1.射频集成电路(GaAs/GaN基MMIC芯片)2.光纤布拉格光栅传感器(应变精度1με)3.MEMS谐振器(工作频率10kHz-300MHz)4.功率半导体


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.调制深度:测量范围50dBm,分辨率0.1dB(10MHz-6GHz频段)

2.相位噪声:灵敏度-170dBc/Hz@1kHz偏移(载波频率1-20GHz)

3.谐波失真:THD≤0.01%(输入功率+30dBm)

4.瞬态响应:上升时间≤5ns(脉冲宽度10μs-100ms)

5.频率稳定性:0.5ppm(-40℃至+85℃温变循环)

检测范围

1.射频集成电路(GaAs/GaN基MMIC芯片)

2.光纤布拉格光栅传感器(应变精度1με)

3.MEMS谐振器(工作频率10kHz-300MHz)

4.功率半导体模块(IGBT/MOSFET开关特性)

5.压电陶瓷换能器(机电耦合系数≥0.65)

检测方法

ASTMF1234-19:射频器件相位噪声测试规范

ISO/IEC15437:2021:光通信器件调制特性测试导则

GB/T17626.7-2017:电磁兼容-谐波电流发射测试

IEC60749-27:2020:半导体器件动态参数测试方法

GB/T4937.2-2018:半导体器件机械和气候试验方法

检测设备

KeysightN9020BMXA信号分析仪:支持26.5GHz实时频谱分析

TektronixMDO3104混合域示波器:集成1GHz带宽频谱分析功能

Rohde&SchwarzFSW67频谱仪:相位噪声基底-178dBc/Hz@10kHz偏移

Agilent33522B函数发生器:80MHz双通道任意波形输出

Chroma63200A电源系统:1500V/100A动态负载模拟能力

AnritsuMG3710E矢量信号源:支持256QAM复杂调制格式生成

NationalInstrumentsPXIe-5646R矢量收发仪:100MHz瞬时带宽实时处理

Fluke6100B电能质量标准源:谐波失真度≤0.02%THD+N

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与负调制检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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