负调制检测概述:检测项目1.调制深度:测量范围50dBm,分辨率0.1dB(10MHz-6GHz频段)2.相位噪声:灵敏度-170dBc/Hz@1kHz偏移(载波频率1-20GHz)3.谐波失真:THD≤0.01%(输入功率+30dBm)4.瞬态响应:上升时间≤5ns(脉冲宽度10μs-100ms)5.频率稳定性:0.5ppm(-40℃至+85℃温变循环)检测范围1.射频集成电路(GaAs/GaN基MMIC芯片)2.光纤布拉格光栅传感器(应变精度1με)3.MEMS谐振器(工作频率10kHz-300MHz)4.功率半导体
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.调制深度:测量范围50dBm,分辨率0.1dB(10MHz-6GHz频段)
2.相位噪声:灵敏度-170dBc/Hz@1kHz偏移(载波频率1-20GHz)
3.谐波失真:THD≤0.01%(输入功率+30dBm)
4.瞬态响应:上升时间≤5ns(脉冲宽度10μs-100ms)
5.频率稳定性:0.5ppm(-40℃至+85℃温变循环)
1.射频集成电路(GaAs/GaN基MMIC芯片)
2.光纤布拉格光栅传感器(应变精度1με)
3.MEMS谐振器(工作频率10kHz-300MHz)
4.功率半导体模块(IGBT/MOSFET开关特性)
5.压电陶瓷换能器(机电耦合系数≥0.65)
ASTMF1234-19:射频器件相位噪声测试规范
ISO/IEC15437:2021:光通信器件调制特性测试导则
GB/T17626.7-2017:电磁兼容-谐波电流发射测试
IEC60749-27:2020:半导体器件动态参数测试方法
GB/T4937.2-2018:半导体器件机械和气候试验方法
KeysightN9020BMXA信号分析仪:支持26.5GHz实时频谱分析
TektronixMDO3104混合域示波器:集成1GHz带宽频谱分析功能
Rohde&SchwarzFSW67频谱仪:相位噪声基底-178dBc/Hz@10kHz偏移
Agilent33522B函数发生器:80MHz双通道任意波形输出
Chroma63200A电源系统:1500V/100A动态负载模拟能力
AnritsuMG3710E矢量信号源:支持256QAM复杂调制格式生成
NationalInstrumentsPXIe-5646R矢量收发仪:100MHz瞬时带宽实时处理
Fluke6100B电能质量标准源:谐波失真度≤0.02%THD+N
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与负调制检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。