检测项目

1.电导率测量：范围10^-6S/m至10^8S/m，精度0.5%

2.载流子浓度测定：覆盖10^12cm^-3至10^20cm^-3量级

3.迁移率分析：霍尔效应法测量0.1-10^5cm/(Vs)

4.能带结构表征：扫描范围5eV，分辨率≤0.01eV

5.界面态密度检测：频率1kHz-1MHz下C-V特性测试

检测范围

1.半导体材料：硅基器件、III-V族化合物半导体

2.二维材料：石墨烯、过渡金属硫化物薄膜

3.导电聚合物：PEDOT:PSS、聚苯胺复合材料

4.新能源器件：钙钛矿太阳能电池电极层

5.纳米复合材料：碳纳米管/金属氧化物异质结

检测方法

1.ASTMF76-08(2020)：半导体材料霍尔效应测试标准

2.ISO14707:2021表面分析-辉光放电光谱法测定载流子浓度

3.GB/T1551-2021硅单晶电阻率测定方法

4.IEC62805-2:2017光伏器件载流子寿命测试规程

5.JISH0605-2019薄膜材料四探针法电阻测量规范

检测设备

1.Keithley4200-SCS半导体参数分析仪：支持DC-IV/CV/脉冲测试模式

2.LakeShore8404系列霍尔效应测量系统：磁场强度2T，温度范围4K-400K

3.AgilentB1500A精密阻抗分析仪：频率范围1MHz至3GHz

4.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪：空间分辨率≤0.5μm

5.KeysightE4990A阻抗分析仪：基本精度0.045%

6.OxfordInstrumentsMicrostatHiResII低温恒温器：工作温度1.5K-500K

7.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：导电AFM模式分辨率1nm

8.ThermoScientificESCALABXi+X射线光电子能谱仪：能量分辨率<0.45eV

9.MitsubishiChemicalLoresta-GXMCP-T700四探针电阻测试仪：量程10^-3~10^6Ω/sq

10.SemilabWT-2000少子寿命测试仪：瞬态光电导衰减法测量精度5%

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与转移电子检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。