逻辑功能检测概述:检测项目1.输入/输出响应时间:测量信号从阈值触发到稳定输出的延迟时间(5ns-100μs)2.信号完整性分析:评估上升/下降沿斜率(≥1V/ns)及过冲幅度(≤10%)3.电平稳定性测试:监测高/低电平波动范围(50mV@5V供电)4.时序容差验证:时钟偏移量(0.5ns)与建立/保持时间裕量(≥200ps)5.故障注入测试:模拟开路/短路条件下的错误恢复时间(≤3个时钟周期)检测范围1.数字集成电路:CPU/FPGA/ASIC芯片的逻辑单元与I/O接口2.印制电路板(PCB):高速信号线的阻抗匹配与串
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.输入/输出响应时间:测量信号从阈值触发到稳定输出的延迟时间(5ns-100μs)
2.信号完整性分析:评估上升/下降沿斜率(≥1V/ns)及过冲幅度(≤10%)
3.电平稳定性测试:监测高/低电平波动范围(50mV@5V供电)
4.时序容差验证:时钟偏移量(0.5ns)与建立/保持时间裕量(≥200ps)
5.故障注入测试:模拟开路/短路条件下的错误恢复时间(≤3个时钟周期)
1.数字集成电路:CPU/FPGA/ASIC芯片的逻辑单元与I/O接口
2.印制电路板(PCB):高速信号线的阻抗匹配与串扰抑制
3.无线通信模块:蓝牙/Wi-Fi基带处理电路的协议栈实现
4.汽车电子控制单元(ECU):CAN/LIN总线通信时序一致性
5.工业PLC控制器:Modbus/EtherCAT协议指令执行准确性
1.ISO16750-2:2023道路车辆电气负荷试验标准
2.GB/T17626.6-2018射频场感应的传导骚扰抗扰度
3.ASTMD3332-22电子元件加速寿命试验方法
4.IEC62132-4:2020集成电路电磁兼容性测试规范
5.GB/T15543-2008电能质量三相电压允许不平衡度
1.KeysightInfiniiVisionMSOX4154A:4通道示波器(1.5GHz带宽/10GSa/s)
2.TektronixTLA6400LogicAnalyzer:64通道逻辑分析仪(40ps定时分辨率)
3.Rohde&SchwarzRTO2044:12位高精度示波器(4GHz带宽)
4.NationalInstrumentsPXIe-5162:14位数字化仪(250MS/s采样率)
5.AdvantestV93000SoC测试系统:1024数字通道/800MHz矢量速率
6.Chroma3380P功率分析仪:0.05%基本精度/500kHz带宽
7.Fluke289True-RMS万用表:50000计数/0.025%直流精度
8.AnritsuMP1900A误码仪:28GbpsPRBS码型生成能力
9.OmicronLabBode100:10MHz-300MHz网络分析模块
10.ThermoStreamT-2600C温控箱:-80℃~+225℃快速温度循环
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与逻辑功能检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。