


概述:检测项目1.光学均匀性:波长632.8nm下测量λ/8级面形精度2.应力双折射:分辨率达0.1nm/cm的残余应力分布3.表面曲率半径:测量精度0.1%的球面/非球面曲率4.中心厚度偏差:微米级厚度测量(0.01mm)5.折射率分布:空间分辨率10μm的梯度折射率测量6.波前畸变:PV值≤λ/4的透射波前分析检测范围1.光学玻璃:包括BK7、熔融石英等透镜基材2.晶体材料:LiNbO₃、CaF₂等非线性光学晶体3.聚合物薄膜:PET/PMMA等光学级塑料薄膜4.金属镀膜元件:Al/Ag反射镜镀层应力分析5
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.光学均匀性:波长632.8nm下测量λ/8级面形精度
2.应力双折射:分辨率达0.1nm/cm的残余应力分布
3.表面曲率半径:测量精度0.1%的球面/非球面曲率
4.中心厚度偏差:微米级厚度测量(0.01mm)
5.折射率分布:空间分辨率10μm的梯度折射率测量
6.波前畸变:PV值≤λ/4的透射波前分析
1.光学玻璃:包括BK7、熔融石英等透镜基材
2.晶体材料:LiNbO₃、CaF₂等非线性光学晶体
3.聚合物薄膜:PET/PMMA等光学级塑料薄膜
4.金属镀膜元件:Al/Ag反射镜镀层应力分析
5.半导体晶圆:GaAs/SiC衬底双折射特性测试
6.光纤预制棒:直径200mm以下预制棒折射率剖面
1.ASTME837-13a:残余应力X射线衍射分析法
2.ISO10110-2:2019:光学元件应力双折射分级标准
3.GB/T1800.3-2020:产品几何量公差(GPS)测量规范
4.ISO14997:2012:光学表面缺陷定量检测方法
5.GB/T11168-2021:光学晶体均匀性测试规范
6.ASTMF218-20:聚合物薄膜应力光学系数测定
1.ZygoVerifireMST干涉仪:波长632.8nm,PV重复性λ/1000
2.ShimadzuAIM-9000应力仪:测量范围500nm/cm,空间分辨率5μm
3.MitutoyoLSM-902S激光测长机:最大量程200mm,精度0.1μm
4.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm
5.HindsExicor150AT双折射测量系统:波长范围400-800nm
6.OlympusBX53M偏振显微镜:配备10~100应力观测物镜
7.ThorlabsPAX1000偏振分析仪:波长灵敏度380-1650nm
8.Keysight5500AFM原子力显微镜:三维形貌分辨率0.1nm
9.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:θ-θ测角仪精度0.0001
10.SchottASCOS系列自动应力仪:符合DIN52305标准测试流程
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"锥光镜检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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