典型计算机分析检测概述:检测项目1.CPU热力学性能测试:TDP功耗偏差≤3%,结温耐受阈值85-125℃2.PCB板层间绝缘强度:耐压测试DC500V10%,漏电流≤0.5mA3.固态硬盘数据完整性:4K随机读写IOPS值偏差率<5%,误码率≤1E-154.内存模块时序稳定性:CL值波动范围0.5周期,电压容差3%5.散热模组导热效率:热阻系数≤0.15℃cm/W@50W负载检测范围1.第三代半导体材料:GaN基板/外延片缺陷密度≤5E6/cm2.高密度互连电路板:20层以上HDI板微孔直径公差8μm3.电磁屏蔽复合材料:表面
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.CPU热力学性能测试:TDP功耗偏差≤3%,结温耐受阈值85-125℃
2.PCB板层间绝缘强度:耐压测试DC500V10%,漏电流≤0.5mA
3.固态硬盘数据完整性:4K随机读写IOPS值偏差率<5%,误码率≤1E-15
4.内存模块时序稳定性:CL值波动范围0.5周期,电压容差3%
5.散热模组导热效率:热阻系数≤0.15℃cm/W@50W负载
1.第三代半导体材料:GaN基板/外延片缺陷密度≤5E6/cm
2.高密度互连电路板:20层以上HDI板微孔直径公差8μm
3.电磁屏蔽复合材料:表面阻抗≤0.1Ω/sq@1GHz
4.存储芯片封装体:BGA焊球共面性≤50μm
5.工业级显示模组:亮度均匀性≥85%@500cd/m
ASTMD150-18介电常数测试:10kHz-1MHz频段介损角测量
ISO16750-3:2012车载电子振动试验:XYZ三轴20-2000Hz扫频
GB/T2423.10-2019气候环境试验:温度循环-40℃~85℃/10cycle
IEC62133-2:2017锂电池安全测试:过充保护响应时间<150ms
GB/T17626.4-2018电快速瞬变脉冲群抗扰度:2kV/5kHz耦合
KeysightN6705C直流电源分析仪:四象限输出精度0.02%+3mV
Chroma19032电源扰动模拟器:浪涌脉冲6kV/3kA波形生成
TektronixDPO73304S示波器:33GHz带宽/200GSa采样率
FlukeTi480Pro红外热像仪:640480分辨率/1℃热灵敏度
AgilentE5063A网络分析仪:300kHz-18GHz矢量网络参数测量
ESPECPL-3K恒温恒湿箱:温控精度0.3℃@-70~150℃
Instron5967万能材料试验机:50kN载荷/0.5级精度等级
OlympusLEXTOLS5000激光显微镜:120nm纵向分辨率测量
HIOKIIM3590阻抗分析仪:4Hz-200MHz频率扫描LCR测试
ThermoScientificDXR3显微拉曼光谱仪:532nm激光/1μm空间分辨率
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与典型计算机分析检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。