通用阵列逻辑检测

检测项目

1.输入/输出延迟：测量信号传输延迟时间（0.1ns-50ns），精度5ps

2.静态功耗电流：测试待机状态电流值（1μA-500mA），分辨率0.1μA

3.时钟频率响应：验证最大工作频率（1MHz-2GHz），抖动容限0.5%

4.编程单元耐久性：评估擦写次数（10^3-10^6次），数据保持时间≥10年

5.温度特性分析：工作温度范围（-55℃~+125℃），温漂系数≤0.05%/℃

检测范围

1.FPGA（现场可编程门阵列）器件：包括SRAM型/Flash型/反熔丝型结构

2.CPLD（复杂可编程逻辑器件）：涵盖EEPROM工艺器件

3.PAL/GAL（可编程阵列逻辑）芯片：16V8/20V8/22V10等系列产品

4.混合信号逻辑器件：集成ADC/DAC的SoC芯片

5.抗辐射加固器件：满足MIL-STD-883标准的航天级产品

检测方法

ASTMF1241-2018：半导体器件时序特性测试规范

ISO16750-2:2021：道路车辆电气环境条件试验标准

GB/T17554-2017：可编程逻辑器件通用测试方法

IEC60749-25:2020：半导体器件机械与气候试验方法

JESD22-A117E：电子器件静电放电敏感度测试

检测设备

KeysightB1500A半导体参数分析仪：支持IV/CV特性曲线测量

TektronixDPO73304S示波器：30GHz带宽时序分析系统

AdvantestT2000测试机：多工位并行测试平台

XilinxVCU118开发套件：UltraScale+架构验证平台

ThermoStreamT-2900温控系统：-80℃~+225℃快速温变装置

Chroma3380PVI电源模块：多通道动态功耗测试系统

NIPXIe-6570数字波形发生器：1.8V~5V电平可编程激励源

ESSESD9100静电放电模拟器：接触放电30kV测试能力

AnritsuMP1900A误码率测试仪：28Gbps高速信号完整性分析

Fluke8846A精密万用表：6位数字测量精度

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"通用阵列逻辑检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。