检测项目
1.粒径分布测定：测量范围0.1-100μm，分辨率1nm（D50值）
2.粒子浓度检测：检出限0.01μg/m（气溶胶），1ppm（液体悬浮液）
3.形状特征分析：长径比（1:1-20:1）、球形度（0-1标度）
4.表面电荷特性：Zeta电位测量范围200mV
5.元素组成鉴定：EDS能谱分析（B-U元素），检出限0.1wt%
检测范围
1.半导体材料：硅晶圆表面金属污染物、光刻胶残留颗粒
2.制药原料：注射用无菌粉末粒径分布、生物制剂蛋白聚集体
3.环境监测：PM2.5/PM10气溶胶浓度、工业排放颗粒物组分
4.金属粉末：3D打印用钛合金粉体流动性相关粒度参数
5.高分子材料：纳米复合材料分散相尺寸及分布均匀性
检测方法
1.ASTMB822-20：标准测试金属粉末粒度分布的激光衍射法
2.ISO21501-4:2018：基于光散射原理的气载粒子浓度测定
3.GB/T19077-2016：粒度分析激光衍射法的实施规范
4.ISO13322-1:2014：静态图像分析法测定粒子形状特征
5.GB/T36084-2018：纳米材料粒度分布的透射电镜分析法
检测设备
1.MalvernMastersizer3000：激光衍射粒度仪，测量范围0.01-3500μm
2.HoribaLA-960V2：干湿两用纳米粒度分析仪，支持动态光散射技术
3.FEIQuanta650FEG：场发射扫描电镜，配备EDS能谱系统
4.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：痕量元素分析仪，检出限达ppt级
5.BeckmanCoulterDelsaMaxPro：多角度Zeta电位及分子量分析系统
6.TSI3330型空气颗粒计数器：六通道光学粒径分级计数器
7.PerkinElmerNexION300D：三重四极杆ICP-MS系统
8.MalvernZetasizerUltra：高灵敏度纳米颗粒表面电荷分析仪
9.Agilent8900ICP-MS/MS：串联质谱系统消除质谱干扰
10.MicromeriticsTriStarIIPlus：比表面及孔隙度分析仪