测试波长:1310nm/1550nm(单模),850nm/1300nm(多模)
合格标准:≤0.36dB/km@1310nm(G.652.D单模)
动态范围:-80dB至+10dB(OTDR法)
芯径偏差:±0.5μm(多模50/125μm)
包层不圆度:≤2.0%(IEC 60793标准)
涂覆层直径:245±10μm(GB/T 9771.3)
多模光纤带宽:≥500MHz·km@850nm(OM2级)
模式带宽:DMD法测量(差分模时延)
色散系数:≤18ps/(nm·km)@1550nm(G.655光纤)
工作温度范围:-40℃~+70℃(室外光纤)
附加衰减:≤0.05dB/km(热循环试验后)
高低温保持时间:≥24h(GB/T 7424.2)
抗拉强度:≥4.2GPa(涂覆层光纤)
弯曲半径:≤7.5mm(动态弯曲测试)
疲劳参数:n≥20(应力腐蚀敏感性)
G.652.D(标准单模光纤)
G.657.A2(弯曲不敏感光纤)
OM3/OM4(激光优化多模光纤)
50/125μm梯度型光纤
掺铒光纤(EDFA用)
保偏光纤(PM光纤)
OVD法制造芯棒
VAD法沉积预制件
铝包钢线结构
全介质自承式光缆
标准依据:IEC 60793-1-40
测试精度:±0.02dB/km
标准依据:GB/T 15972.45-2021
空间分辨率:≤1m
标准依据:ASTM D4565-99
可变孔径法测量
标准依据:ITU-T G.650.1
相位偏移法实现
标准依据:ISO/IEC 7941
三点弯曲试验法
型号:EXFO FTB-500
功能:衰减分布、事件点定位
型号:Yokogawa AQ2200-212
功能:波长扫描损耗测试
型号:NR-60HD(NanoView)
功能:芯/包层同心度检测
型号:Espec SH-261
功能:-70℃~+180℃温变测试
型号:Instron 5967
功能:0-5000N拉伸测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与低衰减光纤检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。