低衰减光纤检测

低衰减光纤检测是确保光纤通信系统性能的核心环节,重点针对衰减系数、几何特性、传输带宽等关键参数进行精密分析。检测需依据国际及国家标准,涵盖单模光纤、多模光纤等材料类型,通过光谱分析仪、光时域反射仪等设备实现高精度测量,为光纤产品研发与质量控制提供数据支撑。

原创阅读 142025-03-10工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 衰减系数测试

测试波长:1310nm/1550nm(单模),850nm/1300nm(多模)

合格标准:≤0.36dB/km@1310nm(G.652.D单模)

动态范围:-80dB至+10dB(OTDR法)

2. 几何特性检测

芯径偏差:±0.5μm(多模50/125μm)

包层不圆度:≤2.0%(IEC 60793标准)

涂覆层直径:245±10μm(GB/T 9771.3)

3. 带宽测试

多模光纤带宽:≥500MHz·km@850nm(OM2级)

模式带宽:DMD法测量(差分模时延)

色散系数:≤18ps/(nm·km)@1550nm(G.655光纤)

4. 温度特性测试

工作温度范围:-40℃~+70℃(室外光纤)

附加衰减:≤0.05dB/km(热循环试验后)

高低温保持时间:≥24h(GB/T 7424.2)

5. 机械性能测试

抗拉强度:≥4.2GPa(涂覆层光纤)

弯曲半径:≤7.5mm(动态弯曲测试)

疲劳参数:n≥20(应力腐蚀敏感性)

检测范围

1. 单模通信光纤

G.652.D(标准单模光纤)

G.657.A2(弯曲不敏感光纤)

2. 多模光纤

OM3/OM4(激光优化多模光纤)

50/125μm梯度型光纤

3. 特种光纤

掺铒光纤(EDFA用)

保偏光纤(PM光纤)

4. 光纤预制棒

OVD法制造芯棒

VAD法沉积预制件

5. 光纤复合架空地线(OPGW)

铝包钢线结构

全介质自承式光缆

检测方法

1. 截断法(基准法)

标准依据:IEC 60793-1-40

测试精度:±0.02dB/km

2. 后向散射法(OTDR法)

标准依据:GB/T 15972.45-2021

空间分辨率:≤1m

3. 模场直径测试

标准依据:ASTM D4565-99

可变孔径法测量

4. 色散系数测量

标准依据:ITU-T G.650.1

相位偏移法实现

5. 机械性能测试

标准依据:ISO/IEC 7941

三点弯曲试验法

检测设备

1. 光时域反射仪(OTDR)

型号:EXFO FTB-500

功能:衰减分布、事件点定位

2. 光谱分析系统

型号:Yokogawa AQ2200-212

功能:波长扫描损耗测试

3. 光纤几何参数分析仪

型号:NR-60HD(NanoView)

功能:芯/包层同心度检测

4. 温度循环试验箱

型号:Espec SH-261

功能:-70℃~+180℃温变测试

5. 光纤拉力试验机

型号:Instron 5967

功能:0-5000N拉伸测试

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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