透射电镜(TEM)分析:星状分支数量(3-8个)、尖端曲率半径(2-5 nm)
原子力显微镜(AFM)表面粗糙度:Ra ≤0.8 nm
核心直径:20-100 nm(动态光散射法)
整体粒径:50-200 nm(TEM统计法)
多分散指数(PDI):≤0.25
Zeta电位:-30 mV至+50 mV(pH 3-11梯度测试)
表面修饰层厚度:1-10 nm(XPS深度剖析)
紫外-可见吸收峰:600-900 nm(半峰宽≤120 nm)
局域表面等离子体共振(LSPR)强度:OD值0.5-3.0
金纯度:≥99.95%(ICP-OES法)
表面元素覆盖率:功能分子结合量≥85%
生物医学材料:肿瘤靶向载体、光热治疗制剂
电子材料:等离子体共振传感器、导电薄膜
催化材料:燃料电池催化剂、有机合成催化剂
环境检测材料:重金属离子传感器
光学材料:表面增强拉曼散射(SERS)基底
ISO 21356-1:2020 纳米材料形貌表征方法
ASTM E2865-22 胶体体系Zeta电位测试标准
GB/T 24369.2-2021 金纳米材料光学特性检测
ISO 19749:2019 纳米颗粒尺寸分布的扫描电镜测定
GB/T 38097-2019 纳米材料表面元素分析通则
透射电子显微镜:JEOL JEM-2100Plus,分辨率0.14 nm
动态光散射仪:Malvern Zetasizer Nano ZS,检测范围0.3 nm-10 μm
紫外-可见分光光度计:PerkinElmer Lambda 950,波长范围175-3300 nm
X射线光电子能谱仪:Thermo Scientific K-Alpha,能量分辨率0.5 eV
电感耦合等离子体发射光谱仪:Agilent 5110 ICP-OES,检测限0.1 ppb
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与金纳米星检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。