金纳米星检测

金纳米星检测涉及对其形貌、尺寸分布、表面特性及光学性能的系统化分析,是纳米材料质量控制的核心环节。检测涵盖透射电镜表征、Zeta电位测定、紫外-可见光谱分析等关键技术参数,适用于生物医学、催化、电子器件等领域。检测过程严格遵循ISO、ASTM及GB/T标准,确保数据的科学性和可重复性。

原创阅读 132025-03-10工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 形貌表征

透射电镜(TEM)分析:星状分支数量(3-8个)、尖端曲率半径(2-5 nm)

原子力显微镜(AFM)表面粗糙度:Ra ≤0.8 nm

2. 尺寸分布

核心直径:20-100 nm(动态光散射法)

整体粒径:50-200 nm(TEM统计法)

多分散指数(PDI):≤0.25

3. 表面电荷特性

Zeta电位:-30 mV至+50 mV(pH 3-11梯度测试)

表面修饰层厚度:1-10 nm(XPS深度剖析)

4. 光学性质

紫外-可见吸收峰:600-900 nm(半峰宽≤120 nm)

局域表面等离子体共振(LSPR)强度:OD值0.5-3.0

5. 元素组成分析

金纯度:≥99.95%(ICP-OES法)

表面元素覆盖率:功能分子结合量≥85%

检测范围

生物医学材料:肿瘤靶向载体、光热治疗制剂

电子材料:等离子体共振传感器、导电薄膜

催化材料:燃料电池催化剂、有机合成催化剂

环境检测材料:重金属离子传感器

光学材料:表面增强拉曼散射(SERS)基底

检测方法

ISO 21356-1:2020 纳米材料形貌表征方法

ASTM E2865-22 胶体体系Zeta电位测试标准

GB/T 24369.2-2021 金纳米材料光学特性检测

ISO 19749:2019 纳米颗粒尺寸分布的扫描电镜测定

GB/T 38097-2019 纳米材料表面元素分析通则

检测设备

透射电子显微镜:JEOL JEM-2100Plus,分辨率0.14 nm

动态光散射仪:Malvern Zetasizer Nano ZS,检测范围0.3 nm-10 μm

紫外-可见分光光度计:PerkinElmer Lambda 950,波长范围175-3300 nm

X射线光电子能谱仪:Thermo Scientific K-Alpha,能量分辨率0.5 eV

电感耦合等离子体发射光谱仪:Agilent 5110 ICP-OES,检测限0.1 ppb

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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