检测项目

1.质量精度：测量偏差≤1ppm（百万分之一）

2.分辨率：≥100,000（FWHM定义）

3.灵敏度：检出限≤1pg/μL（全氟三丁胺标准品）

4.质量范围：覆盖2-4000m/z

5.动态线性范围：≥5个数量级（10^5）

检测范围

1.半导体材料：硅片表面金属污染物（Fe,Cu,Ni等）

2.生物医药：蛋白质分子量测定（10-150kDa）

3.环境监测：水体中多环芳烃（PAHs）痕量分析

4.地质样品：锆石U-Pb同位素比值测定

5.高分子材料：聚合物添加剂分子结构表征

检测方法

1.ASTME1504-22：静态质谱法测定半导体材料表面金属杂质

2.ISO21329:2018：环境样品中多氯联苯的质谱定量分析

3.GB/T32270-2015：同位素丰度比测定通用技术规范

4.ISO10927:2018：塑料制品添加剂定性分析方法

5.GB/T36244-2018：高纯气体中痕量杂质的质谱检测规程

检测设备

1.ThermoScientificOrbitrapExploris480：超高分辨率静电场轨道阱质谱仪，支持MSn级联分析

2.Agilent7250Q-TOF：四极杆-飞行时间串联质谱系统，质量精度0.5ppm

3.WatersXevoG3QTof：配备StepWave离子源，灵敏度达fg级

4.BrukertimsTOFPro2：捕集离子淌度质谱仪，淌度分辨率＞200

5.ShimadzuMALDI-8020：基质辅助激光解吸电离源专用机型

6.PerkinElmerNexION2200：三重四极杆ICP-MS联用系统

7.JEOLJMS-T2000GC：气相色谱-高分辨磁扇质谱联用平台

8.LECOPegasusBT4D：全二维气相色谱/飞行时间质谱系统

9.SCIEXTripleTOF7600：数据非依赖采集模式(DIA)专用机型

10.ThermoFisherISQEC：单四极杆气质联用经济型配置