下刻检测概述:检测项目1.刻槽深度精度:测量范围0.1-500μm,分辨率0.01μm,允许偏差(0.5%H+0.1μm)2.侧壁角度偏差:测量精度0.05,适用角度范围30-1703.表面粗糙度分析:Ra/Rz/Rmax参数测定,测量长度4mm,截止波长λc=0.8mm4.边缘完整性评估:崩边尺寸≤3μm,裂纹深度≤5μm的缺陷检出5.微观硬度测试:载荷范围10-1000gf,维氏硬度HV0.01-HV1标尺检测范围1.金属合金材料:钛合金TC4/TA2、不锈钢316L/304的激光刻蚀件2.陶瓷基复合材料:氮化硅(
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.刻槽深度精度:测量范围0.1-500μm,分辨率0.01μm,允许偏差(0.5%H+0.1μm)
2.侧壁角度偏差:测量精度0.05,适用角度范围30-170
3.表面粗糙度分析:Ra/Rz/Rmax参数测定,测量长度4mm,截止波长λc=0.8mm
4.边缘完整性评估:崩边尺寸≤3μm,裂纹深度≤5μm的缺陷检出
5.微观硬度测试:载荷范围10-1000gf,维氏硬度HV0.01-HV1标尺
1.金属合金材料:钛合金TC4/TA2、不锈钢316L/304的激光刻蚀件
2.陶瓷基复合材料:氮化硅(Si3N4)、碳化硅(SiC)精密模具
3.高分子聚合物:PEEK、PTFE医疗植入物表面微结构
4.半导体晶圆:硅片切割道深宽比≥5:1的刻槽结构
5.光学玻璃元件:熔融石英透镜衍射光栅周期200-800nm结构
ASTME384-22《材料显微硬度的标准试验方法》
ISO4287:2023《产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语定义》
GB/T10610-2022《产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法》
ISO25178-604:2022《非接触式共聚焦显微镜测量表面形貌》
GB/T34878-2017《微纳米尺度几何量测量仪器校准规范》
1.MitutoyoCrysta-ApexS三坐标测量机:XYZ轴精度(0.6+L/400)μm,配备20倍长工作距物镜
2.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:垂直分辨率0.1nm,最大扫描面积1010mm
3.KeyenceVHX-7000数字显微镜:5000万像素CMOS,景深合成功能实现30mm观测深度
4.ZEISSAxioImager.M2m金相显微镜:配备ECEpiplan-Apochromat100物镜(NA=0.95)
5.ShimadzuHMV-G21ST显微硬度计:载荷分辨率0.01gf,XY载物台定位精度1μm
6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:405nm激光光源,横向分辨率120nm
7.HexagonAbsoluteARM7轴测量臂:空间精度9μm,支持接触式测头与激光扫描双模式
8.NikonNEXIVVM-300影像测量系统:双远心光学系统,放大倍率20-200连续变焦
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与下刻检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。