元器件塑性测试

元器件塑性测试主要用于评估电子元器件材料及引线、端子、焊接部位在外力作用下产生塑性变形的能力与稳定性,重点关注屈服行为、延展特征、弯曲耐受性、压缩变形和载荷作用后的结构完整性,为制造质量控制、装配适应性分析及失效判定提供依据。

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检测项目

1.引线弯曲性能:弯曲变形能力,反复弯折耐受性,弯曲后裂纹检查,弯曲残余变形评估。

2.端子塑性变形性能:端子受力变形量,压接区延展性,端部屈服特征,变形恢复情况。

3.金属材料延展性能:延伸表现,断裂前塑性变形能力,局部颈缩特征,塑性均匀性评估。

4.压缩变形性能:受压永久变形,压缩载荷下尺寸变化,结构压溃特征,压缩后完整性检查。

5.拉伸塑性性能:屈服变形行为,拉伸伸长表现,断裂形貌对应变形特征,载荷下塑性响应。

6.焊点变形适应性:焊点受力变形能力,焊接界面塑性响应,焊点开裂倾向,载荷后连接稳定性。

7.封装体抗压变形:封装受压形变,边角开裂检查,封装体局部塌陷评估,受力后外观完整性。

8.薄片材料成形性能:冲压变形适应性,弯折成形能力,成形后厚度变化,边缘裂纹检查。

9.连接片柔顺性能:连接片弯折能力,扭转变形耐受性,反复受力塑性稳定性,变形后导通部位完整性。

10.端帽结合部变形性能:结合部受力位移,局部塑性屈服表现,结合区域开裂检查,变形后连接可靠性。

11.微小结构塑性响应:细小引脚变形行为,微区压痕响应,局部受力后残余形变,微裂纹萌生检查。

12.热载荷后塑性变化:热作用后延展性变化,热循环后变形能力,热老化后脆化倾向,受热后塑性稳定性。

检测范围

电阻器引线、电容器端子、电感器引脚、二极管引线、三极管引脚、集成电路引脚、连接器端子、继电器插脚、保险器件端帽、晶振引脚、传感器端子、发光器件引线、贴片元件焊端、插件元件引脚、金属屏蔽片、弹片触点

检测设备

1.电子万能试验机:用于进行拉伸、压缩、弯曲等力学加载测试,获取元器件在受力过程中的变形响应。

2.微小力值试验机:适用于细小引脚、微型端子等低载荷塑性测试,可实现精细加载与位移控制。

3.弯曲试验装置:用于评估引线、端子及连接片的弯曲性能,观察弯曲过程中的塑性变形与开裂情况。

4.压缩试验装置:用于测定封装体、端帽及局部结构在受压条件下的变形能力和永久变形特征。

5.反复弯折试验装置:用于模拟引线和薄片结构的重复受力状态,评价其塑性稳定性与疲劳前期损伤表现。

6.显微观察装置:用于检查塑性变形后的表面裂纹、边缘损伤、局部颈缩及微观结构变化。

7.影像尺寸测量仪:用于测量试样变形前后的尺寸变化,分析弯曲位移、压缩量和残余形变量。

8.硬度测试装置:用于辅助评估材料局部抗变形能力,分析塑性变形与材料状态之间的关系。

9.压痕试验装置:用于表征微区受力后的压痕响应与局部塑性特征,适合微小结构分析。

10.恒温环境装置:用于提供受控温度条件,评估不同温度状态下元器件材料的塑性变化规律。

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
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  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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