检测周期:常规7-15个工作日出具光纤元件检测报告
样品量:根据客户的试验需要(是否需要制样),详情可咨询工程师
弯曲试验、剪切强度、抗压强度、老化试验、盐雾(腐蚀)试验、流体浸没试验、臭氧暴露试验、高低温冲击试验、光导纤维衰减试验等。
光纤元件的检测方法需依据不同的检测项目和性能需求,常用的检测方法包括:
通过合理的检测方法,能够科学评估光纤元件的各种性能,以确保其符合应用要求。
光纤元件的检测需要配备多种精密仪器,以确保数据的准确性和一致性。常用的检测仪器包括:
合理选择检测仪器并定期校准,是确保光纤元件检测结果准确性和可靠性的关键。
GB/T 18901.1-2002 光纤传感器第1部分:总规范
CEI EN 61300-3-19-1997 光纤互连装置和无源元件基本试验和测量程序第3-19部分:检验和测量单模光纤元件回波损耗的偏振相关性第一版
DIN 58141-1-1989 光纤元件检验;光导纤维衰减的测定
DIN 58141-2-1989 光纤元件检验;光导体比透射系统的测定
DIN 58141-3-1989 光纤元件检验;光导体有效孔角的测定
DIN 58141-5-1993 光纤元件的检验.光导体和图象导体纤维折断率的测定
DIN 58141-5-2011 光纤元件的检验.光导体和图象导体纤维折断率的测定
DIN 58141-6-1993 光纤元件的检验.光纤最小弯曲半径的测定
DIN 58141-6-2011 光纤元件的检验.光纤最小弯曲半径的测定
DIN 58141-8-1993 光纤元件检验.光缆最小弯曲半径的测定
DIN 58141-8-2011 光纤元件检验.光缆最小弯曲半径的测定
TIA 455-3B-2009 R2014 FOTP-3测量光纤单元、光缆和其他无源光纤元件温度循环效应的程序
TIA 455-11-D-2010 R2014 光纤元件和电缆的FOTP-11振动试验程序
TIA 455-12-B-2008 R2013 光纤元件的FOTP-12流体浸没试验
TIA 455-16A-1991 R2014 光纤元件的FOTP-16盐雾(腐蚀)试验
TIA 455-23-A-1985 R2012 光纤元件密封的FOTP-23空气泄漏试验
TIA 455-35A-1990 R2008 FOTP-35光纤元件粉尘(细砂)试验
TIA 455-42A-1989 R2008 光纤元件中的FOTP-42光串扰
TIA 455-188-1991 R2008 光纤元件的FOTP-188低温测试
TIA 455-189-1992 R2012 光纤元件的FOTP-189臭氧暴露试验
TIA 455-190-1992 R2012 光纤元件的FOTP-190低气压(高海拔)测试
1、业务受理 :确定检测需求
2、样品寄送 :客户可选择送样或邮寄样品,北检院亦提供上门取样服务
3、样品初检 :确认样品基本信息、检测用途、执行标准等
4、签订协议:注重保护客户隐私
5、开始试验:安排费用后进行样品检测
6、报告编制:根据实验室上报的数据编写报告草件,确认信息是否无误
7、出具报告:后期服务完善,可随时咨询
以上是与光纤元件检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。