检测项目

1.高温适应性：高温贮存性能，高温通电稳定性，高温外观变化，高温尺寸变化，高温后电学参数变化。

2.低温适应性：低温贮存性能，低温启动表现，低温机械完整性，低温后绝缘状态，低温后功能恢复情况。

3.恒定湿热性能：吸湿特性，绝缘电阻变化，表面漏电倾向，湿热后电性能稳定性，湿热后外观状态。

4.温度循环性能：冷热交替耐受性，热胀冷缩适应性，焊接部位稳定性，封装开裂风险，循环后参数漂移。

5.温度冲击性能：快速温变耐受性，界面结合稳定性，内部应力影响，裂纹萌生情况，冲击后功能完整性。

6.盐雾耐受性：表面腐蚀状况，金属化层耐蚀性，引出端腐蚀程度，盐沉积影响，盐雾后绝缘性能。

7.干热老化性能：长期热暴露稳定性，材料老化程度，颜色变化，结构完整性，老化后关键性能保持率。

8.湿冷凝环境性能：冷凝水影响，表面附着状态，短时受潮响应，湿冷交变稳定性，冷凝后恢复性能。

9.紫外气候耐受性：表面老化情况，涂覆层稳定性，颜色变化，辐照后结构变化，光照后性能保持情况。

10.低气压环境适应性：低压下绝缘表现，散热条件变化影响，结构密封性，低压环境功能稳定性，低压后外观检查。

11.复合气候环境性能：温湿耦合影响，热湿偏压稳定性，多因素叠加老化，综合环境适应能力，复合应力后失效特征。

12.气候暴露后电学性能：导通特性变化，阻断特性变化，漏电流变化，介电性能变化，参数一致性变化。

检测范围

碳化硅功率器件、碳化硅二极管、碳化硅晶体管、碳化硅整流器、碳化硅模块、碳化硅衬底、碳化硅外延片、碳化硅晶圆、碳化硅陶瓷部件、碳化硅加热元件、碳化硅密封环、碳化硅结构件、碳化硅封装样品、碳化硅基片、碳化硅电子元件、碳化硅传感器部件

检测设备

1.高低温试验箱：用于模拟高温、低温及恒定温度环境，评估碳化硅样品在不同温度条件下的适应性与性能变化。

2.温湿度试验箱：用于模拟恒定湿热和交变湿热环境，检测样品吸湿影响、绝缘状态及湿热稳定性。

3.温度冲击试验箱：用于实现快速冷热切换，评估样品在剧烈温差条件下的结构可靠性和性能保持能力。

4.盐雾试验箱：用于模拟含盐腐蚀环境，检测样品表面耐蚀性、金属部位腐蚀情况及盐雾后性能变化。

5.紫外老化试验箱：用于模拟光照老化环境，评估样品在辐照作用下的表面变化、涂层稳定性及耐候性能。

6.低气压试验装置：用于模拟低压环境条件，检测样品在气压变化下的密封状态、绝缘性能及功能稳定性。

7.恒温老化箱：用于开展长期干热老化试验，评估样品在持续热暴露条件下的材料老化和性能衰减情况。

8.电参数测试仪：用于测量样品经气候环境作用前后的电流、电压、电阻等参数变化，分析功能稳定性。

9.绝缘电阻测试仪：用于检测湿热、盐雾及低气压环境后样品的绝缘状态和漏电倾向。

10.外观检查装置：用于观察样品表面裂纹、变色、腐蚀、起皮等现象，辅助判定气候环境对外观与结构的影响。