半导体器件引线键合强度测试

半导体器件引线键合强度测试评价芯片与引线框架间金丝/铜丝键合点的力学可靠性,检测对象涵盖功率器件、集成电路及LED封装半成品。关键指标包括键合拉力、剪切力及失效模式,依据GJB 548、JEDEC JESD22-B116及MIL-STD-883标准。

原创阅读 762026-04-28工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 引线键合拉力(2-15gf)

2. 焊球剪切力(20-120gf)

3. 失效模式分类(颈断/脱键/撕起)

4. 金丝直径(Φ25μm)

5. 高温存储150℃/1000h后拉力保留(≥80%)

检测范围

1. 金丝键合(Φ18-50μm)

2. 铜丝键合(Φ20-30μm)

3. 银合金线(Φ20-50μm)

4. 铝带键合(50×100μm)

5. LED封装倒装焊

检测方法

1. GJB 548C-2021 微电子器件试验方法

2. JEDEC JESD22-B116A:2018 引线键合强度

3. MIL-STD-883 Method 2011.9 键合强度

4. ASTM F459-13 电子引线键合拉力

5. GB/T 19405.10-2021 表面安装焊接

检测设备

1. 引线键合拉力测试仪(Homme JP-2000):0-200g

2. 推球剪切测试仪(DAGE 4000Plus):0-200g

3. 测试钩(25μm钨丝)

4. 体视显微镜(Olympus SZX16):10×-100×

5. 高温试验箱(Espec ESL-04KA):150℃

6. 等离子清洗机(Diener Nano):40kHz

7. 自动推拉力计(XYZTEC Condor 250):5kg

8. X射线检测仪(Yxlon CT Compact):160kV

9. 数字显微镜(Keyence VHX-7000):1000×

10. 力值校准砝码(等级F1 1g-200g)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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