C图测试

C图测试即缺陷数控制图方法验证,用于监控恒定样本量下缺陷或瑕疵总数的统计过程控制,通过泊松分布假设的控制限对过程异常进行识别,适用于铸件气孔数、织物疵点数等计点型质量特性的实时过程监控。

原创阅读 972026-05-09工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 缺陷数中心线CL计算(c̄=总缺陷数/样本数)

2. 控制限设定(UCL=c̄+3√c̄,LCL=c̄-3√c̄)

3. 泊松分布适应性检验(卡方检验p>0.05)

4. 过程稳定性判异(连续8点同侧/趋势/周期)

5. 缺陷率ppm评价(精度±1 ppm)

检测范围

1. 铸造产品:铸件气孔数(单件缺陷数0~20)

2. 电子PCB板:焊点缺陷数(每板0~50点)

3. 织物产品:每平方米疵点数(0~10个/m²)

4. 汽车涂装:漆面颗粒数(每平方米0~30个)

5. 塑料注塑:制品外观缺陷数(每件0~15处)

检测方法

1. GB/T 4091-2001 常规控制图

2. ISO 7870-2:2023 控制图 第2部分:休哈特控制图

3. GB/T 17989-2022 控制图通则和导引

4. GB/T 3358.2-2009 统计学词汇及符号 第2部分:统计质量控制

5. ASTM E2587-16 控制图构建和应用标准指南

检测设备

1. SPC统计分析软件(Minitab 21):c图绘制,泊松拟合优度检验

2. 工业显微镜(Keyence VHX-7000):放大倍率20~2000×,深度合成

3. 自动光学检测仪(AOI OmniVision S-9208):检测速度200 cm²/s,最小缺陷10 μm

4. X射线检测仪(Yxlon CT Compact):分辨率5 μm,检测区域400×300 mm

5. 表面粗糙度仪(Mitutoyo SJ-410):测量范围360 μm,分辨率0.8 nm

6. 数据采集器(Fluke 2638A):20通道,分辨率0.01℃

7. 电子数显卡尺(Mitutoyo 500-196-30):量程0~150 mm,精度0.01 mm

8. SPC在线监控系统(Bentley JMP Live):云端实时数据上传,自动报警

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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