检测项目

1.绝缘性能测试：体积电阻率，表面电阻率，绝缘电阻。

2.介电特性分析：介电常数，介质损耗角正切，介电强度。

3.电气强度测试：工频击穿电压，直流击穿电压。

4.漏电流特性测试：直流泄漏电流，表面漏电流。

5.电荷存储与消散特性：电荷储存能力，表面电荷衰减时间。

6.电导率分析：体积电导率，表面电导率。

7.极化特性测试：剩余极化强度，极化反转特性。

8.热释电效应分析：热释电系数，热释电电流。

9.静电特性评估：表面静电电位，静电起电序列。

10.抗电晕性测试：电晕起始电压，电晕腐蚀评估。

11.介质击穿性能：短时击穿电压，逐步击穿电压。

12.介电谱分析：宽频介电谱，温度谱分析。

检测范围

光学玻璃原材、光学透镜、光学棱镜、光学窗口片、光学滤光片、光纤预制棒、激光晶体基板、光电探测器窗口、显示屏盖板玻璃、光学镀膜基片、红外光学材料、紫外光学材料、微光夜视仪光学元件、投影仪镜头镜片、天文望远镜镜片、光刻机光学元件、医疗内窥镜光学元件、光电封装玻璃、光学编码盘、特种光学纤维

检测设备

1.高阻计：用于精确测量材料在高压下的体积电阻与表面电阻；具备高输入阻抗与微弱电流检测能力。

2.介电常数测试仪：用于测量材料在不同频率下的介电常数与损耗因子；通常基于谐振法或传输线法。

3.击穿电压测试仪：用于测定材料在工频或直流高压下的击穿电压值；配备自动升压与击穿保护机制。

4.静电计与源表：用于测量极低的漏电流与电荷量；集成了高精度电压源与电流检测功能。

5.电导率测试仪：用于测量材料的体积与表面电导率；常采用四探针法或三电极法以消除接触电阻影响。

6.热释电系数测试仪：用于测量材料因温度变化产生的电荷释放特性；通过控温与电荷积分实现。

7.静电衰减测试仪：用于评估材料表面静电荷的消散速率；通过电晕充电与电位监测完成。

8.局部放电测试系统：用于检测材料内部或表面在高压下的局部放电现象；具备高频脉冲电流检测与定位功能。

9.介质击穿测试系统：专门用于研究材料的长期耐压与逐步击穿过程；可进行多应力老化试验。

10.宽频介电谱仪：用于在宽频率与温度范围内扫描材料的介电弛豫行为；揭示材料内部极化机理。