检测项目
1.介电性能:介电常数,介电损耗,介电强度。
2.绝缘性能:体积电阻率,表面电阻率,绝缘电阻。
3.导电特性:电导率,漏电流,电流密度。
4.击穿特性:击穿电压,击穿场强,耐压时间。
5.频率特性:频率响应,阻抗谱,极化特性。
6.温度特性:温度系数,热激发电导,热稳定性。
7.介质稳定性:介电老化,极化衰减,电学漂移。
8.界面效应:电极接触电阻,界面电容,接触稳定性。
9.非线性特性:伏安曲线,阈值电场,非线性系数。
10.介电击穿模式:局部放电,缺陷起始,放电强度。
11.应力电效应:应力影响电阻,电学各向异性,压电响应。
12.环境适应性:湿度影响,气氛影响,污染敏感性。
检测范围
氮化硅陶瓷基板、氮化硅薄膜、氮化硅粉体、氮化硅烧结体、氮化硅陶瓷片、氮化硅绝缘层、氮化硅封装材料、氮化硅散热基材、氮化硅电介质层、氮化硅陶瓷管、氮化硅复合材料、氮化硅涂层、氮化硅功能结构件、氮化硅微型器件、氮化硅传感元件
检测设备
1.介电参数测试仪:测定介电常数与介电损耗随频率变化。
2.高阻计:测量体积电阻率与表面电阻率。
3.绝缘电阻测试仪:评估绝缘电阻与稳定性。
4.耐压测试仪:开展击穿电压与耐压时间测试。
5.阻抗分析仪:获取阻抗谱与电容电感特性。
6.电流电压测试系统:绘制伏安曲线与漏电流特性。
7.高压放电检测装置:监测局部放电与放电强度。
8.温控电学测试平台:进行温度依赖电学参数测定。
9.环境适应性测试箱:评估湿度与气氛对电学性能影响。
10.接触电阻测试仪:测量电极界面接触电阻与稳定性。