电子元器件元素含量分析

检测项目

1. 主量元素分析：Cu、Sn、Ag、Au、Ni等主成分含量(0.1%-99.9%)

2. 微量杂质元素：Fe、Pb、Zn、Al等杂质含量(1-1000ppm)

3. 有害元素检测：Pb、Cd、Hg、Cr⁶⁺、PBBs、PBDEs等RoHS限制物质

4. 稀土元素分析：La、Ce、Nd等稀土元素含量(0.01%-10%)

5. 贵金属含量：Au、Ag、Pt、Pd等贵金属定量分析

检测范围

1. 半导体器件：二极管、三极管、集成电路芯片

2. 无源元件：电阻、电容、电感

3. 连接器：接插件、端子、线缆

4. 电子封装材料：引线框架、焊料、封装树脂

5. 电子基板材料：PCB板、陶瓷基板

检测方法

1. GB/T 29847-2013 电子电气产品中相关物质的测定第1部分：X射线荧光光谱法

2. IEC 62321-1:2013 电工产品中某些物质的测定第1部分：介绍和概述

3. GB/T 29848-2013 电子电气产品中相关物质的测定第2部分：拆解分离和机械制样

4. ASTM F2617-15 用能量色散X射线荧光光谱法测定聚合物中受控元素的测试方法

5. GB/T 23991-2009 表面化学分析辉光放电发射光谱法通则

检测设备

1. X射线荧光光谱仪(Bruker S8 TIGER)：可测Na-U元素，检出限1ppm

2. 电感耦合等离子体发射光谱仪(Agilent 5110 ICP-OES)：可测70+元素

3. 电感耦合等离子体质谱仪(Thermo Fisher iCAP RQ)：检出限0.1ppt

4. 扫描电子显微镜-能谱联用仪(Zeiss Sigma 500+EDS)：微区元素分析

5. 原子吸收分光光度计(PerkinElmer AAnalyst 800)：火焰/石墨炉双模式

6. 微波消解仪(Milestone ETHOS X)：温度范围室温-240℃，压力35bar

7. 辉光放电质谱仪(Thermo Fisher Element GD)：深度剖析分析

8. 电子天平(Mettler Toledo XPR205)：称量范围0-220g，精度0.01mg

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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