小角X射线散射测试

小角X射线散射测试利用X射线在低角度(0.1°~10°)的散射现象分析纳米尺度(1~100 nm)的电子密度不均匀性,可测定纳米颗粒尺寸分布、孔隙结构、大分子构象及长周期结构,广泛应用于纳米材料和高分子结构表征。

原创阅读 212026-05-09工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 纳米颗粒尺寸分布(测量范围1~100 nm,精度±0.5 nm)

2. 孔隙结构参数(孔径1~50 nm,比表面积0.1~2000 m²/g)

3. 回转半径测定(精度±0.1 nm)

4. 长周期结构(测量范围2~100 nm)

5. 分子量测定(精度±10%)

检测范围

1. 纳米颗粒:金属纳米颗粒、氧化物纳米颗粒(1~100 nm)

2. 多孔材料:介孔硅、活性炭、MOFs材料

3. 高分子材料:嵌段共聚物、共混物相分离结构

4. 生物大分子:蛋白质溶液构象(分子量10~1000 kDa)

5. 纤维材料:碳纤维、芳纶纤维内部结构

检测方法

1. GB/T 36326-2018 透射电子显微镜分析方法通则

2. ISO 17867:2020 粒度分析 小角X射线散射法

3. GB/T 36985-2018 基于小角X射线散射的纳米结构分析

4. ASTM E1264-19 小角X射线散射数据分析标准指南

5. ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射线散射法

检测设备

1. 小角X射线散射仪(Anton Paar SAXSPoint 5.0):角度范围0.03°~40°,Cu Kα辐射

2. 微聚焦X射线源(Rigaku MicroMax-007 HF):功率1.2 kW,焦点尺寸70×70 μm

3. 二维面探检测器(Dectris EIGER2 R 4M):像素数2070×2167,读出速度3 kHz

4. SAXS线站(上海同步辐射光源BL19U2):能量范围5~20 keV,光通量10^13 ph/s

5. 全反射镜系统(Xenocs Fox2D):反射率>80%,发散角<0.2 mrad

6. 样品台(Anton Paar TCS 150):温度范围-30~300℃,控温精度±0.1℃

7. 毛细管样品比色皿(Borrich HR6-138):石英材质,直径1.5 mm,壁厚0.01 mm

8. 真空系统(Pfeiffer HiCube 80 Eco):极限真空<0.1 mbar,抽速67 m³/h

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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