半自反空间检测

检测项目

1.光谱反射率梯度：380-2500nm波长范围内反射率变化率≤0.8%/nm

2.透射相位一致性：632.8nm波长下相位偏差≤λ/20

3.界面应力分布：表面残余应力≤50MPa（ASTMF218标准）

4.热膨胀系数匹配度：ΔCTE≤0.510^-6/℃（-40℃至200℃）

5.膜层附着力强度：划痕临界载荷≥30N（ISO20502标准）

6.环境耐久性：85℃/85%RH条件下光学衰减≤3%（1000h测试）

检测范围

1.光学镀膜玻璃（AR/IR-Cut复合镀层）

2.半导体晶圆光刻掩模版

3.航天器热控多层膜组件

4.激光谐振腔反射镜组

5.柔性显示触控导电薄膜

6.光伏背板反射增强涂层

检测方法

ASTME903-20《材料太阳吸收比与半球发射比测试》

ISO13696:2002《光学元件散射特性测量》

GB/T26331-2010《光学薄膜激光损伤阈值测试》

GB/T31370-2015《平板显示器用透明导电薄膜规范》

ISO9211-4:2012《光学镀膜环境耐久性试验》

ASTMB487-20《X射线法测量镀层厚度》

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050分光光度计：0.175-3300nm全波段反射/透射测量

2.ZygoVerifireMST干涉仪：λ/100精度面形检测

3.BrukerDektakXT轮廓仪：0.1垂直分辨率膜厚测量

4.ShimadzuAIM-9000红外热像仪：1℃温度场分析

5.Instron5944万能材料机：500N载荷附着力测试

6.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射线衍射仪：残余应力分析

7.Agilent5500原子力显微镜：纳米级表面粗糙度表征

8.ESRIQ-SUNXe-3氙灯老化箱：光谱匹配太阳辐射模拟

9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：三维形貌重构

10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪：化学键合状态分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"半自反空间检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。