检测项目

粒径分布：测量0.1nm-100μm范围内单分散或多分散体系的D10/D50/D90值

浓度测定：量化110-110⁹particles/mL区间内的粒子数密度

Zeta电位：分析200mV范围内的表面电荷特性

形貌表征：获取球形/棒状/片状粒子的长径比与表面粗糙度数据

团聚指数：计算0.1-1.0范围内的分散稳定性指标

检测范围

纳米材料：金属氧化物纳米颗粒（TiO₂/Al₂O₃）、碳基材料（石墨烯/碳纳米管）

生物医药：脂质体药物载体、蛋白质聚集体、疫苗佐剂微粒

高分子材料：聚合物胶乳粒子（PS/PMMA）、微球色谱填料

环境监测：PM2.5/PM10气溶胶颗粒、水体悬浮物

工业制品：陶瓷粉体（氧化锆/氮化硅）、金属3D打印粉末（316L/Ti6Al4V）

检测方法

动态光散射法：ASTME2490-2021测定亚微米级粒子粒径分布

激光衍射法：ISO13320:2020实现1-3000μm宽域粒径分析

电泳光散射法：GB/T32667-2016测量Zeta电位与电泳迁移率

扫描电镜法：GB/T27788-2020进行形貌观测与EDS元素分析

纳米颗粒追踪分析：ISO19430:2016完成高分辨率浓度测定

检测设备

MalvernZetasizerNanoZS：集成DLS与ELS功能，支持0.3nm-10μm粒径测量

BeckmanCoulterLS13320XR：采用激光衍射技术实现0.4-2000μm全量程分析

HoribaSZ-100Z：同步测定Zeta电位与分子量分布的高通量系统

NanoSightNS300：基于NTA技术实现20-2000nm颗粒可视化计数

TESCANMIRA3SEM：配备BSE探测器完成1nm分辨率形貌表征

MicromeriticsTriStarIIPlus：通过BET法测定比表面积及孔隙结构

Agilent7900ICP-MS：痕量元素分析检出限达ppt级

BrukerDimensionIconAFM：原子力显微镜实现三维表面拓扑成像

ShimadzuSALD-7500nano：干湿法双模测定0.01-3000μm宽谱粒径

ParticleMetrixPMX-200：在线监测Zeta电位与电导率变化过程