检测项目
粒径分布：测量0.1nm-100μm范围内单分散或多分散体系的D10/D50/D90值
浓度测定：量化110-110⁹particles/mL区间内的粒子数密度
Zeta电位：分析200mV范围内的表面电荷特性
形貌表征：获取球形/棒状/片状粒子的长径比与表面粗糙度数据
团聚指数：计算0.1-1.0范围内的分散稳定性指标
检测范围
纳米材料：金属氧化物纳米颗粒（TiO₂/Al₂O₃）、碳基材料（石墨烯/碳纳米管）
生物医药：脂质体药物载体、蛋白质聚集体、疫苗佐剂微粒
高分子材料：聚合物胶乳粒子（PS/PMMA）、微球色谱填料
环境监测：PM2.5/PM10气溶胶颗粒、水体悬浮物
工业制品：陶瓷粉体（氧化锆/氮化硅）、金属3D打印粉末（316L/Ti6Al4V）
检测方法
动态光散射法：ASTME2490-2021测定亚微米级粒子粒径分布
激光衍射法：ISO13320:2020实现1-3000μm宽域粒径分析
电泳光散射法：GB/T32667-2016测量Zeta电位与电泳迁移率
扫描电镜法：GB/T27788-2020进行形貌观测与EDS元素分析
纳米颗粒追踪分析：ISO19430:2016完成高分辨率浓度测定
检测设备
MalvernZetasizerNanoZS：集成DLS与ELS功能，支持0.3nm-10μm粒径测量
BeckmanCoulterLS13320XR：采用激光衍射技术实现0.4-2000μm全量程分析
HoribaSZ-100Z：同步测定Zeta电位与分子量分布的高通量系统
NanoSightNS300：基于NTA技术实现20-2000nm颗粒可视化计数
TESCANMIRA3SEM：配备BSE探测器完成1nm分辨率形貌表征
MicromeriticsTriStarIIPlus：通过BET法测定比表面积及孔隙结构
Agilent7900ICP-MS：痕量元素分析检出限达ppt级
BrukerDimensionIconAFM：原子力显微镜实现三维表面拓扑成像
ShimadzuSALD-7500nano：干湿法双模测定0.01-3000μm宽谱粒径
ParticleMetrixPMX-200：在线监测Zeta电位与电导率变化过程