低序检测

检测项目

1.晶粒尺寸分布：测量范围0.1-500μm，精度2%

2.位错密度分析：分辨率≥10⁶cm⁻

3.非平衡相含量：检测下限0.1wt%

4.晶格畸变率：误差范围0.05%

5.元素偏析指数：空间分辨率≤10nm

6.亚稳态相比例：定量分析精度0.3%

检测范围

1.金属材料：铝合金、钛合金、高温合金等

2.半导体材料：硅晶圆、GaN外延层等

3.陶瓷材料：氧化锆、碳化硅结构件等

4.高分子复合材料：碳纤维增强环氧树脂等

5.薄膜涂层：PVD/CVD沉积功能膜层

6.粉末冶金制品：烧结齿轮、含油轴承等

检测方法

1.X射线衍射法（XRD）：ASTME975-20/GB/T8362-2018

2.透射电子显微术（TEM）：ISO25498:2018/GB/T27788-2020

3.电子背散射衍射（EBSD）：ASTME2627-19

4.原子探针层析技术（APT）：ISO21363:2020

5.小角中子散射（SANS）：GB/T36083-2018

6.同步辐射微区分析：ISO/TS21383:2021

检测设备

1.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：配备OxfordSymmetryEBSD系统，实现亚微米级晶体取向分析

2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备LYNXEYEXE-T探测器，支持高温原位测试

3.ThermoScientificTalosF200X透射电镜：STEM模式分辨率0.16nm

4.CAMECALEAP5000XR原子探针：三维原子级成分重构精度99.9%

5.MalvernPanalyticalEmpyrean小角散射仪：q值范围0.06-30nm⁻

6.ZeissSigma500热场发射电镜：配合GatanK3IS相机实现低剂量成像

7.RigakuSmartLab高分辨XRD：配备交叉光路光学系统，最小光斑尺寸50μm

8.OxfordInstrumentsAztecLiveEDS系统：实时能谱元素面分布分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"低序检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。