检测项目

表面发射率测定（ε=0.10~0.99可调精度±0.01）

温度测量范围验证（-40℃~3000℃分段校准）

热响应时间测试（τ≤10ms高速采样）

空间分辨率验证（IFOV≤0.1mrad）

测量重复性评估（±0.5%FSD@23±1℃）

检测范围

金属材料：不锈钢、铝合金、钛合金等高温合金

陶瓷材料：氧化铝、碳化硅、氮化硅等非金属基材

高分子材料：聚四氟乙烯、聚酰亚胺等隔热材料

复合材料：碳纤维增强塑料、陶瓷基复合材料

功能涂层：热障涂层、红外反射涂层、消光涂层

检测方法

ASTM E1256-17 辐射测温系统标定规程

ISO 18434-1:2008 机器状态监测与诊断标准

GB/T 13321-2009 高温测量方法国家标准

GB/T 19870-2018 工业检测型红外热像仪规范

IEC/TS 62446-3:2017 光伏组件热斑检测标准

检测设备

FLIR A35红外热像仪：640×480分辨率，-40~1500℃量程，配备MSX多波段动态成像

KEITHLEY 6517B静电计：0.1fA~20mA测量范围，支持辐射热流密度换算

ISOTECH黑体炉：型号BBX-20，发射率0.999±0.001，温度稳定性±0.05℃/h

OPTRIS CTlasers 3M：双色高温计，300~3000℃量程，响应时间10μs

HGH DCT可调发射率标准板：8阶发射率基准（0.10~0.95）