检测项目

1.分子结构共轭度分析：测量π-π*电子跃迁能量（200-800nm波长范围）

2.共轭链长度测定：通过UV-Vis吸收边计算有效共轭长度（ECL值）

3.热稳定性测试：TGA法测定5%质量损失温度（Td5%）

4.荧光量子产率测定：积分球法测量绝对量子产率（ΦPL0.5%）

5.载流子迁移率测试：空间电荷限制电流法（SCLC）测量值≥10-4cm/Vs

检测范围

1.共轭高分子材料：聚苯胺(PANI)、聚噻吩(P3HT)等导电聚合物

2.有机半导体材料：并五苯、酞菁铜等小分子半导体晶体

3.光电转换材料：钙钛矿薄膜、有机光伏活性层材料

4.生物医用材料：聚吡咯神经导管、聚乙撑二氧噻吩(PEDOT)电极

5.纳米复合材料：石墨烯/聚合物杂化体系、碳纳米管复合薄膜

检测方法

1.UV-Vis光谱法：ASTME275-08、GB/T26798-2011测定吸收边波长

2.荧光光谱法：ISO23900-5:2015进行量子产率标定

3.热重分析法：GB/T19466.1-2004测定热分解温度

4.循环伏安法：ASTME2592-22计算HOMO/LUMO能级

5.X射线衍射法：ISO20283-5:2019分析晶体堆积结构

检测设备

1.PerkinElmerLambda950紫外可见近红外分光光度计（波长范围190-3300nm）

2.HoribaFluorolog-3荧光光谱仪（检测灵敏度0.1ppb）

3.NetzschSTA449F3同步热分析仪（温度范围RT-1550℃）

4.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪（Cu靶Kα辐射源）

5.Keithley4200A-SCS半导体参数分析仪（电流分辨率0.1fA）

6.MalvernZetasizerNanoZSP动态光散射仪（粒径测量范围0.3nm-10μm）

7.AgilentCary630FTIR傅里叶变换红外光谱仪（分辨率0.5cm-1）

8.MetrohmAutolabPGSTAT302N电化学工作站（电位精度0.1mV）

9.JEOLJEM-2100F场发射透射电镜（点分辨率0.19nm）

10.OxfordInstrumentsX-MaxN80能谱仪（元素分析范围B-U）