检测项目

1.真空光速测量：相对不确定度≤110⁻⁹，波长632.8nm氦氖激光干涉法

2.普朗克常数测定：约瑟夫森结电压法（h=6.6260701510⁻⁴Js），不确定度≤510⁻⁸

3.阿伏伽德罗常数标定：单晶硅球密度法（NA=6.0221407610mol⁻），球径Φ93.6mm0.1μm

4.玻尔兹曼常数测量：声学气体测温法（k=1.38064910⁻J/K），温度范围0.01-273.16K

5.精细结构常数测定：量子霍尔效应法（α≈1/137），磁场强度≥12T条件下测量

检测范围

1.半导体材料：硅单晶纯度≥99.9999%，用于阿伏伽德罗常数标定

2.超导器件：铌基约瑟夫森结阵列（临界温度9.2K），普朗克常数测量核心元件

3.光学元件：熔融石英棱镜（折射率1.458@632.8nm），光速测量基准组件

4.量子器件：石墨烯量子霍尔器件（载流子迁移率＞10⁵cm/Vs），电阻量子基准载体

5.同位素标样：富集⁸⁷Rb同位素（丰度＞99%），原子钟频率基准物质

检测方法

ASTME1227-21：基于X射线晶体密度法的阿伏伽德罗常数测定规程

ISO31-8:2023：基本物理常量的量值溯源与不确定度评定规范

GB/T26217-2021：低温噪声测温法测定玻尔兹曼常数的技术要求

IEC61788-25:2022：超导器件在量子电压标准中的应用测试方法

GB/T41671-2022：基于原子干涉仪的重力加速度精密测量规程

检测设备

1.KeysightN6700系列高精度激光干涉仪：波长分辨率0.1pm，用于光速绝对测量

2.ZurichInstrumentsUHFLI锁相放大器：频率范围0.01Hz-600MHz，量子化霍尔电阻测量核心设备

3.PTB定制型单晶硅球加工系统：球面圆度误差＜50nm，直径测量不确定度3nm

4.CryogenicLtdMS-100磁屏蔽系统：残余磁场＜1nT，保障精密电磁测量环境

5.Agilent3458A八位半数字万用表：电压分辨率0.1nV，约瑟夫森结阵列特性表征

6.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：角度重复性0.0001，晶格常数测定专用

7.OxfordInstrumentsTeslatronPT低温恒温器：温度稳定性0.1mK@4.2K

8.HindsInstrumentsPEM-100偏振调制椭偏仪：相位延迟测量精度0.001

9.Fluke8588A参考级万用表：电流测量不确定度0.5ppm，量子电流基准建立

10.NIST溯源型Fabry-Perot谐振腔：自由光谱范围1GHz0.1MHz，激光频率稳定装置