检测项目
纯度检测：CdS含量≥99.9%（ICP-OES法）
晶型结构分析：六方纤锌矿/立方闪锌矿相比例（XRD）
粒度分布检测：D50值≤200nm（激光粒度仪）
杂质元素检测：Fe、Cu、Pb、As含量≤10ppm（ICP-MS）
光学性能测试：禁带宽度2.42eV（UV-Vis分光光度法）
检测范围
半导体材料：CdS薄膜、纳米线
光电材料：太阳能电池涂层、LED发光层
涂料及颜料：耐候性工业涂料
陶瓷釉料：高温烧结釉面材料
电池材料：镍镉电池电极添加剂
检测方法
ASTM E1479-2016：电感耦合等离子体发射光谱法测定硫化物纯度
ISO 20289:2018：X射线衍射法定量相分析
GB/T 23367-2009：纳米材料粒度分布测试通则
GB/T 32650-2016：电感耦合等离子体质谱法测定杂质元素
ISO 10640:2011：紫外-可见光谱法测定半导体带隙
检测设备
珀金埃尔默Optima 8300 ICP-OES：元素定量分析（检测限0.1ppm）
布鲁克D8 ADVANCE XRD：晶体结构解析（2θ范围5°-90°）
马尔文Mastersizer 3000：纳米粒度测试（0.01-3500μm）
安捷伦7900 ICP-MS：痕量元素检测（ppt级灵敏度）
岛津UV-2600i分光光度计：光学吸收谱测量（190-1400nm）