检测项目
晶体结构分析：
- 空间群判定：晶系归属、点群对称性（参照ICSD数据库）
- 晶胞参数测定：轴长(a,b,c)、轴角(α,β,γ)（精度±0.0001nm）
- 多相混合物识别：特征衍射峰匹配（2θ范围5°-140°）
- 同质多象体区分：如α-Al₂O₃与γ-Al₂O₃（d值偏差≤0.01Å）
- Rietveld全谱拟合：相含量计算（误差±1wt%）
- 参比强度法（I/Ic）：无标样定量（参照JCPDS卡片）
- 非晶散射分离：结晶度百分比（半定量法）
- 微晶尺寸计算：Scherrer公式（晶粒尺寸＜100nm）
- 宏观应力测定：sin²ψ法（精度±20MPa）
- 微观应变分析：Williamson-Hall图解法
- 极图测量：{hkl}晶面法向分布
- ODF反演：取向密度函数（最大级数L=22）
- 相变温度测定：如α/β钛合金相变点（升温速率5℃/min）
- 动态晶格膨胀：热膨胀系数计算（温度范围RT-1600℃）
- 掠入射衍射（GID）：膜厚＞50nm（入射角0.2°-5°）
- 应力梯度检测：多层膜界面相鉴定
- 小角散射（SAXS）：粒径分布（范围1-100nm）
- 原子对分布函数（PDF）：短程有序分析
- 位错密度计算：Wilkins公式（误差±10⁹/cm²）
- 层错概率测定：衍射峰位移法（如FCC金属）
检测范围
1. 金属合金： 钛/镍基高温合金中γ'相含量，铝合金时效析出相鉴定
2. 陶瓷材料： 氧化锆增韧陶瓷t→m相变定量，Si₃N₄陶瓷β-Si₃N₄相含量
3. 高分子材料： 聚丙烯α/β晶型比例，液晶聚合物近晶相识别
4. 地质矿物： 石英-长石多型转变分析，黏土矿物蒙脱石层间相
5. 水泥建材： 硅酸三钙多晶型鉴定，AFt/AFm相转化监控
6. 催化剂： 载体γ-Al₂O₃向α相转变检测，活性组分晶相分布
7. 电池材料： 锂电正极LiCoO₂层状结构稳定性，NMC材料阳离子混排度
8. 半导体： SiC 4H/6H多型体定量，GaN外延层位错密度
9. 药物晶体： 多晶型含量控制（如利托那韦I/II型），共晶相鉴定
10. 腐蚀产物： 304不锈钢σ相析出检测，高温氧化层相组成分析
检测方法
国际标准：
- ASTM E975-20 残余应力X射线衍射测定
- ISO 20203:2017 铝用碳素材料煅后焦晶相定量
- JIS K 0131:2022 高分子材料X射线衍射通则
- GB/T 23413-2022 纳米材料X射线衍射表征
- GB/T 8362-2023 金属材料X射线应力测定
- GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥相定量（Rietveld法）
检测设备
1. X射线衍射仪： Bruker D8 ADVANCE型（2θ精度±0.0001°，Cu靶Kα辐射）
2. 高温附件： Anton Paar HTK 1200N高温腔（最高温度1600℃，真空度10⁻⁶mbar）
3. 织构测角仪： Panalytical X'Pert Pro MRD（Ψ角范围0°-360°，χ角-5°-85°）
4. 小角散射仪： Rigaku NANOPIX（q范围0.07-7nm⁻¹，准直器20μm）
5. 同步辐射光源： 上海光源BL14B1线站（波长0.5-2.0Å，光斑尺寸10μm）
6. 透射电子显微镜： JEOL JEM-ARM300F（点分辨率0.08nm，STEM模式）
7. 电子背散射衍射仪： Oxford Symmetry EBSD（分辨率0.1μm，扫描速度3000点/秒）
8. 中子衍射仪： CARR HRPD（波长1.6Å，穿透深度＞50mm）
9. 激光衍射仪： Malvern Mastersizer 3000（粒径范围0.01-3500μm）
10. 拉曼光谱仪： Renishaw inVia Qontor（空间分辨率0.5μm，532/785nm激光）
11. 原子力显微镜： Bruker Dimension Icon（分辨率0.1nm，PeakForce模式）
12. 傅里叶红外光谱仪： Thermo Nicolet iS50（波数范围7800-350cm⁻¹，DTGS检测器）
13. 热分析联用系统： Netzsch STA 449 F5（同步TG-DSC，最高温度1550℃）
14. 原位电池测试装置： Bio-Logic BCS-815（恒流范围±5A，XRD兼容）
15. 低温样品台： Oxford PheniX（最低温度4K，液氦闭循环）