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X射线荧光检测

X射线荧光测试周期,X射线荧光测试标准,X射线荧光项目报价 项目 方案 周期 立即咨询
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  • 2025-06-01 16:30:08
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X射线荧光检测概述：检测项目 1. 金属材料成分检测： 合金元素定量：Cr（16.0-18.0wt%）、Ni（10.0-14.0wt%）（GB/T 223.11-2008） 杂质元素控制：Pb≤0.1wt%、Cd≤0.01wt%（ISO 21068-2:2008） 痕量元素分析：As≤5ppm、Hg≤2ppm（EPA 6200） 2. 矿石矿物分析： 主量元素测定：Fe₂O₃（≥62.0%）、SiO₂（≤6.0%）（GB/T 6730.62-2005） 贵金属含量：Au≥0.5g/t、Ag≥15g/t（ASTM D5673-


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检测项目

1. 金属材料成分检测：

  • 合金元素定量：Cr（16.0-18.0wt%）、Ni（10.0-14.0wt%）（GB/T 223.11-2008）
  • 杂质元素控制：Pb≤0.1wt%、Cd≤0.01wt%（ISO 21068-2:2008）
  • 痕量元素分析：As≤5ppm、Hg≤2ppm（EPA 6200）
2. 矿石矿物分析：
  • 主量元素测定：Fe₂O₃（≥62.0%）、SiO₂（≤6.0%）（GB/T 6730.62-2005）
  • 贵金属含量：Au≥0.5g/t、Ag≥15g/t（ASTM D5673-16）
3. 土壤沉积物检测：
  • 重金属污染：Cr(VI)≤3mg/kg、Cd≤0.8mg/kg（GB 15618-2018）
  • 营养元素：P₂O₅≥0.08%、K₂O≥1.5%（ISO 12677:2011）
4. 塑料聚合物筛查：
  • 阻燃剂检测：Br≤1000ppm、Sb≤500ppm（IEC 62321-3-4:2017）
  • 稳定剂分析：Sn（1.0-2.2wt%）、Zn（0.05-0.15wt%）
5. 镀层涂层测量：
  • 镀层厚度：Zn层5-8μm、Ni层≥15μm（ISO 3497:2000）
  • 多层结构：Cu/Ni/Cr组合层（总厚≥25μm）
6. 电子电器有害物质：
  • RoHS六项：Pb≤0.1wt%、Hg≤0.1wt%（GB/T 26125-2011）
  • 卤素限制：Cl≤900ppm、Br≤900ppm（IEC 61249-2-21:2013）
7. 油品添加剂检测：
  • 磨损金属：Fe≤50ppm、Cu≤10ppm（ASTM D7751-16）
  • 清净剂元素：Ca（800-1500ppm）、Zn（900-1300ppm）
8. 水泥建材分析：
  • 氧化物组成：CaO（60-67%）、Al₂O₃（4-7%）（GB/T 176-2017）
  • 有害成分：Cl⁻≤0.06%、MgO≤5.0%
9. 陶瓷玻璃检测：
  • 釉料成分：PbO≤0.5wt%、CdO≤0.01wt%（EN 71-3:2019）
  • 着色剂分析：Co₃O₄（0.5-1.2wt%）、Cr₂O₃（1.8-2.5wt%）
10. 催化材料表征：
  • 活性组分：Pt（0.8-1.2wt%）、Pd（1.5-2.0wt%）
  • 载体成分：γ-Al₂O₃≥95%（JIS R2216:2005）

检测范围

1. 黑色金属合金： 涵盖碳钢、不锈钢、工具钢等，重点检测Cr/Ni/Mo关键合金元素偏差及P/S杂质控制

2. 有色金属材料： 包括铝合金（Si/Cu/Mg）、铜合金（Zn/Sn/Pb）、钛合金（Al/V）等，确保元素比例符合牌号要求

3. 地质矿产样品： 针对铁矿、铜精矿、稀土矿等，测定主量元素品位及伴生有害元素分布

4. 电子元器件： PCB基材、焊料、接插件，重点筛查RoHS指令限制物质及贵金属镀层厚度

5. 环境固体废物： 污染土壤、污泥、飞灰等，定量分析As/Cd/Hg/Pb/Cr等重金属污染指数

6. 石油化工产品： 催化剂、润滑油、添加剂，监控活性金属含量及磨损元素累积浓度

7. 建筑装饰材料： 瓷砖、玻璃、涂料，检测重金属溶出量及放射性核素（K-40/Th-232）

8. 汽车零部件： 三元催化器、合金轮毂、电镀件，验证贵金属负载量及表面处理层厚度

9. 食品接触材料： 金属餐具、陶瓷容器、塑料包装，管控Pb/Cd/Sb等迁移风险元素

10. 考古文物： 青铜器、陶瓷残片、古钱币，进行无损成分分析用于真伪鉴定及矿源追溯

检测方法

国际标准：

  • ISO 3497:2000 金属镀层厚度测量（X射线光谱法）
  • ASTM D4294-16 石油产品硫含量测定（能量色散XRF法）
  • IEC 62321-3-4:2017 电子电器产品溴系阻燃剂筛查
  • EPA 6200 土壤和固体废弃物现场检测指南
  • JIS K0119:2018 荧光X射线分析通则
国家标准：
  • GB/T 16597-2019 冶金产品X射线荧光光谱分析通则
  • GB/T 21JianCe-2019 耐火材料X射线荧光光谱化学分析
  • GB/T 31364-2015 能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试
  • GB/T 30904-2014 无机化工产品杂质元素测定（EDXRF法）
  • GB/T 40110-2021 表面化学分析全反射X射线荧光光谱法（TXRF）
方法差异说明：ISO 3497要求镀层测量使用标样校准曲线，而GB/T 16597允许基本参数法（FP）；EPA 6200强调现场快速筛查需进行湿度校正，GB/T 31364则对仪器分辨率（Mn-Kα≤135eV）有明确规定；TXRF标准（GB/T 40110）适用于痕量分析（ppb级），与传统EDXRF（ppm级）形成互补。

检测设备

1. 波长色散光谱仪： ZSX Primus IV（Rh靶4kW，分析范围B-U，分辨率≤40eV）

2. 能量色散光谱仪： EDAX Orbis PC（SDD探测器，分辨率129eV@Mn-Kα，50W管压）

3. 手持式合金分析仪： Vanta M系列（40kV/200μA，IP54防护，轻元素Mg/Si/Al检测）

4. 镀层测厚仪： Fischer XDL230（多镀层分析，厚度范围0.005-50μm，精度±1%）

5. 全反射荧光仪： Bruker S2 PICOFOX（检出限0.1ppb，硅晶片反射器）

6. 真空样品室系统： 配备He冲洗装置（轻元素Na-Mg检测优化）

7. 自动进样器： 64位旋转式样品盘（定位精度±0.01mm）

8. 多毛细管光学系统： 微区分析束斑≤30μm

9. 偏振光EDXRF： 降低背景噪声（检测限改善3-5倍）

10. 高温熔样机： 铂金坩埚熔融系统（最高温度1200℃）

11. 压片机： 40T液压式（粉末样品制备）

12. 液体样品池： 聚酯薄膜窗（厚度6μm，耐有机溶剂）

13. 三维移动平台： 电动调节（定位精度10μm）

14. 冷却循环系统： 恒温精度±0.1℃（保障探测器稳定性）

15. 氦气净化装置： 纯度99.999%（轻元素分析专用）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与X射线荧光检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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