复导纳检测

复导纳检测是评估材料或器件电学性能的重要方法,通过测量复数导纳参数(电导与电纳的组合)分析介电特性、损耗因子及频率响应等指标。检测需遵循国际标准与规范流程,涵盖电子材料、绝缘体、半导体等多个领域,核心参数包括阻抗幅值、相位角、损耗角正切等,为产品质量控制与失效分析提供数据支撑。

原创阅读 132025-03-10工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

电导率(σ):测量范围0.1 S/m至1000 S/m,精度±0.5%

介电常数(εr):频率范围1 kHz-1 MHz,分辨率0.01 F/m

阻抗谱(Z):频率扫描10 Hz-10 MHz,相位角误差≤0.1°

损耗角正切(tanδ):测试范围0.0001-10,温度范围-40℃至150℃

频率响应特性:带宽覆盖DC-100 MHz,动态范围≥120 dB

检测范围

高频陶瓷材料(如Al2O3、BaTiO3基体)

高分子绝缘复合材料(环氧树脂、聚酰亚胺薄膜)

半导体器件(MOSFET、IGBT栅极结构)

液态电解质(锂离子电池电解液、超级电容器电解液)

磁性材料(铁氧体、非晶合金薄带)

检测方法

ASTM D150-18:固体电绝缘材料交流损耗特性及介电常数标准测试法

ISO 6721-1:2019:塑料动态力学性能测定(频率范围0.01 Hz-100 MHz)

GB/T 1409-2006:测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电性能推荐方法

IEC 60250:1969:测量电气绝缘材料在功率频率下介电常数和介质损耗因数推荐方法

GB/T 31838.2-2019:固体绝缘材料介电和电阻特性第2部分:电阻特性

检测设备

Keysight E4990A阻抗分析仪:频率范围20 Hz至120 MHz,支持四端对测量,基本精度0.045%

Novocontrol Concept 80宽频介电谱仪:频率范围1 μHz-40 MHz,温度控制精度±0.1℃

Hioki IM3570阻抗分析仪:频率DC-5 MHz,可测|Z|范围1 mΩ-100 MΩ,相位精度±0.05°

Agilent 4294A精密阻抗分析仪:40 Hz-110 MHz,支持等效电路建模,测试夹具16047E

TH2818D LCR数字电桥:测试频率20 Hz-200 kHz,基本精度0.05%,四线Kelvin测试接口

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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