检测项目
电导率测试：测量范围0.01-10^8 S/m，精度±1%
热导率测试：检测范围0.1-2000 W/(m·K)，分辨率0.001 W/(m·K)
表面电阻率：量程10^3-10^16 Ω/sq，电压100V-1000V
体积电阻率：测试范围10^4-10^18 Ω·cm，温度控制±0.5℃
电磁屏蔽效能：频率范围30MHz-18GHz，动态范围≥60dB
检测范围
金属材料：铜合金、铝合金、钛合金等导电金属
半导体材料：硅晶圆、GaN、SiC等半导体基片
高分子复合材料：碳纤维增强塑料、导电橡胶
电子元器件：PCB板、连接器、屏蔽罩
纳米材料：石墨烯薄膜、碳纳米管复合材料
检测方法
ASTM E1004：涡流法测非铁磁性金属电导率
ISO 22007-2：瞬态平面热源法测热导率
GB/T 1410：三电极法测固体绝缘材料体积/表面电阻
IEC 62333-2：带状线法测电磁屏蔽效能
GB/T 3048.3：四探针法测半导体材料电阻率
检测设备
四探针电阻率测试仪KEITHLEY 2450：支持0.1μΩ-1GΩ测量，配备温度控制模块
激光闪射法热导仪LFA 467 HyperFlash：温度范围-120℃-2800℃，符合ISO 22007标准
屏蔽效能测试系统ETS-Lindgren 5406：满足IEC 61000-4-21标准，配置双TEM室
高阻计KEITHLEY 6517B：最大电阻测量10^18Ω，集成静电计功能
涡流电导仪Sigmatest 2.069：频率范围60kHz-480kHz，符合ASTM E1004标准