检测项目

电导率测试：测量范围0.01-10^8 S/m，精度±1%

热导率测试：检测范围0.1-2000 W/(m·K)，分辨率0.001 W/(m·K)

表面电阻率：量程10^3-10^16 Ω/sq，电压100V-1000V

体积电阻率：测试范围10^4-10^18 Ω·cm，温度控制±0.5℃

电磁屏蔽效能：频率范围30MHz-18GHz，动态范围≥60dB

检测范围

金属材料：铜合金、铝合金、钛合金等导电金属

半导体材料：硅晶圆、GaN、SiC等半导体基片

高分子复合材料：碳纤维增强塑料、导电橡胶

电子元器件：PCB板、连接器、屏蔽罩

纳米材料：石墨烯薄膜、碳纳米管复合材料

检测方法

ASTM E1004：涡流法测非铁磁性金属电导率

ISO 22007-2：瞬态平面热源法测热导率

GB/T 1410：三电极法测固体绝缘材料体积/表面电阻

IEC 62333-2：带状线法测电磁屏蔽效能

GB/T 3048.3：四探针法测半导体材料电阻率

检测设备

四探针电阻率测试仪KEITHLEY 2450：支持0.1μΩ-1GΩ测量，配备温度控制模块

激光闪射法热导仪LFA 467 HyperFlash：温度范围-120℃-2800℃，符合ISO 22007标准

屏蔽效能测试系统ETS-Lindgren 5406：满足IEC 61000-4-21标准，配置双TEM室

高阻计KEITHLEY 6517B：最大电阻测量10^18Ω，集成静电计功能

涡流电导仪Sigmatest 2.069：频率范围60kHz-480kHz，符合ASTM E1004标准