检测项目

二氧化硅（SiO₂）含量：检测范围65-75%，误差±0.5%

结晶度分析：XRD半峰宽≤0.5°，晶胞参数偏差±0.02Å

微量元素检测：Fe₂O₃≤0.3%，Al₂O₃≤1.2%，CaO≤0.5%

密度测定：标准值2.3-2.6g/cm³，测量精度±0.02g/cm³

热稳定性测试：TG-DSC分析（25-1200℃，升温速率10℃/min）

检测范围

天然硅质异极矿原石及精矿

工业级硅质异极矿粉体（粒径D50:5-100μm）

陶瓷/耐火材料添加剂

催化剂载体材料

复合矿物填料（聚合物基/金属基）

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM D4326、GB/T 21114

X射线衍射分析（XRD）：ISO 20203、GB/T 30905

电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：GB/T 23942

热重-差示扫描量热联用（TG-DSC）：ISO 11358、GB/T 27761

气体置换法密度测定：ASTM B923、GB/T 24586

检测设备

X射线荧光光谱仪（Thermo Scientific ARL PERFORM'X）：多元素同步检测，检测限0.01%

多功能X射线衍射仪（Rigaku SmartLab）：2θ角范围5-160°，分辨率≤0.01°

全谱直读ICP-OES（PerkinElmer Avio 550）：波长范围165-782nm，检出限0.1ppb

同步热分析仪（NETZSCH STA 449 F5）：温度精度±0.1℃，气氛控制范围0-1500℃

全自动密度仪（Micromeritics AccuPyc II 1340）：测量重复性±0.01%