二氧化硅含量检测

检测项目

化学组成分析：

• 总SiO2含量：检测范围0.01%-100%，精度±0.05%（参照ISO9285）
• 杂质元素分析：铁（Fe≤0.01%）、铝（Al≤0.02%）
• 挥发份测定：加热损失≤1.0%

物理特性检测：

• 粒径分布：D50值（5-100μm，参照ASTMB822）
• 比表面积：BET法（1-500m²/g）

形态结构分析：

• 结晶度：XRD法（结晶度≥95%）
• 形态观察：SEM成像（分辨率≤10nm）

纯度鉴定：

• 游离二氧化硅含量：重量法（≤0.5%）
• 水分测定：烘箱法（≤0.1%）

热性能检测：

• 热稳定性：TGA分析（失重率≤2%）
• 熔点测定：DSC法（熔点≥1700℃）

光学特性：

• 透光率：UV-Vis光谱（≥90%@550nm）
• 折射率：阿贝折射仪（1.45-1.55）

表面性质：

• 亲水性：接触角测量（≤30°）
• 表面电荷：Zeta电位（-30至-50mV）

机械性能：

• 硬度测试：莫氏硬度≥7
• 抗压强度：≥100MPa

环境影响：

• 粉尘浓度：重量法（≤1mg/m³）
• 可溶性离子：ICP-MS（Na+≤10ppm）

生物相容性：

• 细胞毒性：MTT法（存活率≥90%）
• 溶血率：分光光度法（≤5%）

检测范围

1.石英砂：工业级原料，重点检测总SiO2含量和重金属杂质

2.玻璃制品：平板玻璃等，侧重SiO2纯度和热稳定性

3.陶瓷材料：瓷砖及绝缘体，关注结晶相分布和机械强度

4.地质样品：岩石矿物，强调游离二氧化硅和矿物组成

5.化工填料：橡胶塑料添加剂，检测粒径一致性和表面性质

6.电子硅片：半导体基材，要求高纯度SiO2（≥99.99%）

7.涂料涂层：功能性涂料，分析分散性和光学特性

8.耐火材料：高温砖瓦，重点热性能及杂质控制

9.生物材料：医用植入物，评估生物相容性和表面电荷

10.环境粉尘：空气颗粒物，检测可吸入二氧化硅含量

检测方法

国际标准：

• ISO9285:2020硅酸盐矿物化学分析方法（采用碱熔融法）
• ASTMD859-16水中二氧化硅测定标准（基于钼蓝比色法）
• ISO13320:2020粒度分析激光衍射法（适用于粒径分布）

国家标准：

• GB/T15343-2020滑石粉化学分析方法（重量法为主）
• GB/T14506.28-2010硅酸盐岩石分析（酸溶解流程）
• GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法（与国际标准校准差异）

方法差异说明：国际标准（如ISO）优先使用微波消解，国家标准（如GB）常采用传统酸溶解；激光衍射法中，ISO要求更严格的环境控制

检测设备

1.X射线荧光光谱仪：XRF-8000型（检测限0.001%，精度±0.05%）

2.电感耦合等离子体光谱仪：ICP-OES-500型（元素范围1ppb-100%，分辨率0.01nm）

3.电子天平：AE-200型（量程0.1mg-200g，精度±0.0001g）

4.激光粒度分析仪：LPA-3000（粒径范围0.01-3500μm）

5.X射线衍射仪：XRD-7000（角度范围5-80°，步长0.02°）

6.扫描电子显微镜：SEM-9000（分辨率1nm，加速电压0.1-30kV）

7.比表面积分析仪：BSA-100（方法BET，范围0.01-1000m²/g）

8.热重分析仪：TGA-1500（温度范围室温-1200℃，精度±0.1℃）

9.紫外可见分光光度计：UV-1600（波长190-1100nm，带宽1nm）

10.原子吸收光谱仪：AAS-400（检出限0.1ppb，火焰/石墨炉模式）

11.傅里叶变换红外光谱仪：FTIR-800（波数400-4000cm⁻¹，分辨率4cm⁻¹）

12.接触角测量仪：CA-200（角度范围0-180°，精度±0.1°）

13.Zeta电位分析仪：ZP-100（范围-200至+200mV）

14.烘箱：DHG-100（温度室温-300℃，均匀度±1℃）

15.马弗炉：MF-1200（最高温度1200℃，升温速率

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"二氧化硅含量检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。