检测项目

矫顽力（Hc）：测量范围0.1-3000 kA/m，精度±1.5%

剩磁（Br）：检测范围0.01-2.5 T，分辨率0.001 T

磁滞回线：记录最大磁场±5 T，采样频率10 kHz

温度稳定性：-196℃至500℃温区磁参数变化率

磁导率（μ）：频率范围20 Hz-1 MHz，测量误差±2%

检测范围

永磁材料：钕铁硼（NdFeB）、钐钴（SmCo）、铝镍钴（AlNiCo）

软磁材料：硅钢、铁氧体、非晶合金

磁记录介质：硬盘磁粉、磁带涂层

磁性薄膜：溅射FePt薄膜、CoCrTa涂层

磁传感器元件：霍尔元件、磁阻传感器芯片

检测方法

矫顽力检测：ASTM A977（闭路测量法）、GB/T 3217（开路样品法）

剩磁测定：ISO 6042（脉冲磁化法）、GB/T 12796（静态测量法）

磁滞回线测试：IEC 60404-5（环形试样法）、GB/T 13888（薄带试样法）

高温磁性能检测：ISO 21747（变温VSM法）、GB/T 3656（高温亥姆霍兹线圈法）

动态磁导率检测：ASTM A912（交流桥接法）、GB/T 10129（阻抗分析仪法）

检测设备

Lake Shore 7300系列振动样品磁强计：磁场范围±3 T，温度控制4-800 K

Quantum Design PPMS综合物性测量系统：支持DC/AC磁化率测量，最高磁场9 T

LINK-HT1600高温磁性能测试系统：工作温度可达1600℃，磁场强度1.5 T

NIM-5000型磁滞回线测量仪：符合GB/T 13888标准，采样率200 MS/s

Keysight B2902A精密源表：支持1 fA-10 A电流输出，用于纳米材料微磁测量