检测项目

介电常数测量：频率范围1kHz-1MHz，温度范围-40℃~150℃

介质损耗角正切值（tanδ）：测试电压0.1-10kV，精度±0.0001

击穿场强测试：升压速率0.5kV/s-3kV/s，最大电压100kV

体积电阻率测定：直流电压100V-1000V，测量范围10^6-10^16Ω·cm

表面电位衰减：衰减时间0.1s-3600s，空间分辨率±1mm

检测范围

高分子绝缘材料：聚四氟乙烯（PTFE）、环氧树脂、硅橡胶

陶瓷介质材料：钛酸钡基陶瓷、氧化铝陶瓷

电容器介质：薄膜电容器、多层陶瓷电容器（MLCC）

半导体封装材料：EMC环氧模塑料、底部填充胶

新能源器件：锂离子电池隔膜、光伏背板材料

检测方法

ASTM D150：固体电绝缘材料交流损耗特性及介电常数标准测试

IEC 60250：测量电气绝缘材料高频介电性能推荐方法

GB/T 1409-2006：测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电性能

ISO 1853：导电和抗静电橡胶体积电阻率测定

GB/T 1693-2007：硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压测定

检测设备

Keysight E4990A阻抗分析仪：频率范围20Hz-120MHz，支持四端对测量

HIOKI IM3536 LCR测试仪：基本精度0.05%，最大测试电压10Vrms

Haefely Hipotronics HDC100-200：直流击穿电压测试，最大输出电压200kV

Trek Model 347静电衰减测试系统：表面电位测量范围±20kV，时间分辨率10ms

Agilent 16451B介电测试夹具：三电极系统，符合ASTM D150标准